芯片檢測(cè)顯微鏡的用途及特點(diǎn)

老上光儀器廠專業(yè)生產(chǎn)、芯片檢測(cè)顯微鏡，我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。

■產(chǎn)品用途

正置(明暗場(chǎng))芯片檢查顯微鏡廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

■產(chǎn)品特點(diǎn)

*采用了高分辨率、長(zhǎng)工作距離無(wú)限光路校正系統(tǒng)的物鏡成像技術(shù)。

*拓展了物鏡的復(fù)用技術(shù)，無(wú)限遠(yuǎn)物鏡與所有觀察法相兼容包括明暗視野法、偏光法，并在每一觀察法中均提供清晰度高的圖像質(zhì)量。

*采用非球面照明，增加觀察亮度。

*超大視野目鏡，長(zhǎng)工作距離明暗場(chǎng)金相物鏡。

芯片檢測(cè)顯微鏡的配置

芯片檢測(cè)顯微鏡配有大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)、落射照明器、平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時(shí)配有偏光裝置，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠等部門使用。

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