大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

應(yīng)用范圍■光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學(xué)材料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強(qiáng)誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點(diǎn)：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

購買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

2、關(guān)于尺碼

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

3、關(guān)于顏色

4、關(guān)于客服

客戶全天24小時在線，如需緊急處理，請致電公司 。

5、關(guān)于售后

日本產(chǎn)品保修一年，消耗品不再維修范圍內(nèi)。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準(zhǔn)sample。

本軟件，通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動ＸＹ平臺來實(shí)施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動運(yùn)輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。