德州熒光測(cè)厚儀服務(wù)為先「在線咨詢」

發(fā)布時(shí)間：2020-12-13 04:39

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一六儀器專業(yè)測(cè)厚儀多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理

對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。X-RAY測(cè)厚儀特點(diǎn)1，價(jià)格高，機(jī)種不同，價(jià)格在10萬(wàn)~100萬(wàn)左右，可測(cè)試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。

江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

電鍍液測(cè)量杯整套含兩個(gè)測(cè)量杯，可用于多品牌X-RAY測(cè)厚儀上使用，高純?cè)乇镜滋岣邷y(cè)量精度和檢出限。電鍍液測(cè)試樣品杯，嚴(yán)格控制了容量和溢出物的處理，用來(lái)測(cè)試溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡(jiǎn)捷，無(wú)污染。

測(cè)試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測(cè)試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測(cè)膜，光譜儀樣品薄膜；并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷，無(wú)污染的測(cè)試用樣品薄膜，廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。

江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀元素分析范圍：氯（CI）- 鈾（U）

厚度分析范圍：各種元素及有機(jī)物

x射線熒光鍍層測(cè)厚儀（國(guó)產(chǎn)）是一款針對(duì)金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過(guò)X熒光照射出產(chǎn)品，每個(gè)元素反射出的二次特征譜線，通過(guò)檢測(cè)器分析出強(qiáng)度來(lái)金屬鍍層的厚度，完全達(dá)到無(wú)損、快速分析的效果，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍企業(yè)（鋁平行管、電鍍五金），連接器企業(yè)、開(kāi)關(guān)企業(yè)等。調(diào)整焦距：使用儀器左側(cè)焦距調(diào)整旋鈕，使得軟件測(cè)試畫(huà)面盡可能清晰12。

x射線熒光鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

minimum φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)x射線熒光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃