耐電流參數(shù)測(cè)試儀 High Current Parameter Tester HCT High current test耐電流測(cè)試儀

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耐電流測(cè)試是測(cè)試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測(cè)試方法。耐電流測(cè)試是在特殊設(shè)計(jì)的孔鏈上施加一定的直流電流，并持續(xù)一段時(shí)間，電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱，熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材，基材受熱膨脹， Z方向尺寸變大，產(chǎn)生膨脹應(yīng)力，作用于孔上下焊盤(pán)之間，當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時(shí)，膨脹應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致孔斷裂，從而檢測(cè)出孔的互聯(lián)可靠性不良?！穸喾N孔鏈測(cè)試條溫度測(cè)量方法選擇孔鏈測(cè)試條的溫度測(cè)量可以采用通過(guò)電阻和溫度電阻系數(shù)計(jì)算得到，也可以采用熱電偶測(cè)量得到。

耐電流測(cè)試具有快速的特點(diǎn)。

耐電流測(cè)試具有直觀(guān)的特點(diǎn)。

耐電流測(cè)試具有全l面的特點(diǎn)，所有印制電路板在制板上均可以設(shè)置孔鏈。

過(guò)去雷射盲孔的檢測(cè)，是運(yùn)用肉眼或3D測(cè)量?jī)x器進(jìn)行逐一檢測(cè)，這種方法非常消耗人力，辛苦且只能檢查到一小部分的孔，威太的雷射盲孔檢測(cè)儀可全l面檢測(cè)HDI及ABF板上的每一個(gè)孔，且健側(cè) 時(shí)間從數(shù)小時(shí)大幅度縮減至數(shù)十秒，不但可以測(cè)出不良盲孔，更可以精準(zhǔn)且詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)報(bào)告，做為生產(chǎn)的監(jiān)控與改善。公司擁有資l深的軟件/硬件研發(fā)團(tuán)隊(duì)與專(zhuān)業(yè)的技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì),能快速響應(yīng)客戶(hù)需求并提供相應(yīng)的解決方案。

針對(duì)雷射鉆孔的需求，提供具成本與效益的檢查機(jī)量測(cè)解決方案。

耐電壓測(cè)試儀在吸收、消化耐壓測(cè)試的基礎(chǔ)上，結(jié)合我國(guó)眾多用戶(hù)的實(shí)際使用情況加以提高、完善。ZHZ8全數(shù)顯型耐壓測(cè)試儀，測(cè)試電壓、漏電流測(cè)試和時(shí)間均為數(shù)字顯示，切斷電流可根據(jù)不同安全標(biāo)準(zhǔn)和用戶(hù)不同需求連續(xù)任意設(shè)定，功能更加豐富實(shí)用，并且可通過(guò)漏電流顯示反映被測(cè)體漏電流的實(shí)際值和比較同類(lèi)產(chǎn)品不同批次或不同廠(chǎng)家產(chǎn)品中的耐壓好壞程度，確保你的產(chǎn)品安全性能萬(wàn)無(wú)一失。●初始電阻篩選可以設(shè)定測(cè)試前初始電阻的上下限閥值，符合初始電阻要求的樣品才繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。