大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕i對(duì)反射率進(jìn)行測量，可進(jìn)行高i精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。

可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測量時(shí)間上，能達(dá)到1秒/點(diǎn)的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件

硬涂層膜厚度的測量[FE-0004]

近年來，使用具有各種功能的高i性能薄膜的產(chǎn)品被廣泛使用，并且根據(jù)應(yīng)用不同，還需要提供具有諸如摩擦阻力，抗沖擊性，耐熱性，薄膜表面的耐化學(xué)性等性能的保護(hù)薄膜。通常保護(hù)膜層是使用形成的硬涂層（HC）膜，但是根據(jù)HC膜的厚度不同，可能出現(xiàn)不起保護(hù)膜的作用，膜中發(fā)生翹曲，或者外觀不均勻和變形等不良。 因此，管理HC層的膜厚值很有必要。

膜厚測試儀波譜校準(zhǔn) 　　不關(guān)機(jī)狀態(tài)下每日必做一次或每次關(guān)機(jī)3小時(shí)以上再次重開機(jī)必做，目的讓儀器進(jìn)行自我補(bǔ)償調(diào)整。首先點(diǎn)擊任務(wù)欄中的“波譜校準(zhǔn)”，然后將波譜校準(zhǔn)片放入儀器，將Cu-Ag合金部分移至十字線中間，鐳射聚焦，測量（點(diǎn)擊Go鍵）。待膜厚測試儀器自動(dòng)完成每一步，紅色STOP鍵會(huì)轉(zhuǎn)變成綠色GO鍵后，將純Ag部分移至十字線中間，鐳射聚焦，測量（點(diǎn)擊Go鍵），完成后出現(xiàn)“波譜校準(zhǔn)成功”字樣的對(duì)話框時(shí)，點(diǎn)擊“確定”即可。