一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

上照式：通常都有Z軸可移動(dòng)，所以可對(duì)形狀復(fù)雜的樣品（如凹面內(nèi)）做定位并且測(cè)試，一般可定位到2mm以內(nèi)的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎(chǔ)上配備了可變焦裝置，搭配先進(jìn)的算法，可定位到80mm以內(nèi)的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動(dòng)，所以不可對(duì)凹面等無法直接接觸測(cè)試窗口的位置進(jìn)行定位并測(cè)試，但操作簡單，造價(jià)相對(duì)低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測(cè)試復(fù)雜形狀樣品，同時(shí)也抬高了價(jià)格

XTU-A、XTU-50A：五金產(chǎn)品、緊固件、汽車配件、衛(wèi)浴等，測(cè)量面積大于?0.2mm的產(chǎn)品

?XTU-BL：主要針對(duì)線路板等大平面，但是需要測(cè)試?0.1mm以下，且求購儀器預(yù)算較低的客戶。

?XTU-50B、XTU-4C：可測(cè)試小至?0.05mm測(cè)量面積，且搭載的精密移動(dòng)平臺(tái)和變焦鏡頭（XTU全系列都含有）能滿足各種需求。

X-RAY測(cè)厚儀特點(diǎn)

1，價(jià)格高，機(jī)種不同，價(jià)格在10萬~100萬左右，可測(cè)試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。

 2，無損檢測(cè)，Windows操作系統(tǒng)，使用簡便。操作快速，能適應(yīng)多類鍍層，大量檢測(cè)，但體積較大，計(jì)算機(jī)除外約100000cm2，50000g左右。

3，測(cè)量厚度范圍較廣，

0.002um~100um左右，能測(cè)試5層以上膜厚，并且可以測(cè)量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

4，測(cè)量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，測(cè)頭的面積較小，對(duì)需測(cè)的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測(cè)量，基材厚度無要求。

6，可編程XYZ測(cè)量臺(tái)及大移動(dòng)范圍。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

       X熒光涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)試原理

同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。能量色散X射線熒光光譜分析相對(duì)其他分析方法，具有無需對(duì)樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速，方便，測(cè)量成本低等明顯優(yōu)勢(shì)，特別適合用于各類相關(guān)企業(yè)作為過程控制和檢測(cè)使用。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層，此時(shí)就有能量ΔE釋放出來，且ΔE=EK-EL，這個(gè)能量是以X射線形式釋放，產(chǎn)生的就是Kα 射線，同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線 ，L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下: λ=K(Z-s)-2 這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此,只要測(cè)出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。