計量校準的介紹　　

校準和測量能力。校準和測量能力(CMC)是校準實驗室在常規(guī)條件下能夠提供給客戶的校準和測量的能力，其應是在常規(guī)條件下的校準中可獲得的的測量不確定度。國際上，實驗室認可合作組織(ILAC)互認協(xié)議的認可機構認可的校準實驗室的認可范圍中原來使用的是測量能力(BMC)，而簽署CIPM互認協(xié)議的各國家計量院在國際計量局(BIPM)的關鍵比對數(shù)據(jù)庫(KCDB)中使用的是校準測量能力。

計量測量誤差的介紹

測量誤差的含義，測量的目的是確定被測量的真值，但在測量過程中，由于測量器具本身的誤差以及受到測量方法、測量條件諸因素的制約，其測得值往往不是被測量的真值勤，兩者之間必然存在著差異。這種由于測量的不完善造成的測得值與被測量真值之間的差異，稱為測量誤差。測量誤差的來源是多方面的，主要來源如下：標準器具誤差

原理誤差，設計測量器具時以近似的實際工作原理代替理論工作原理所造成的誤差稱為原理誤差。例如，以線性標尺代替理論上要求的非線性標尺造成的誤差原理誤差往往已在設計時進行修正，故可忽略不計。阿貝誤差，由于量儀的結構或工件的安置違背“阿貝原則”所造成的誤差稱為阿貝誤差?！鞍⒇愒瓌t”是要求被測長度與基準長度安置在同一直線上的原則。