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發(fā)布時(shí)間:2021-01-19 19:22  
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計(jì)量校準(zhǔn)的介紹。校準(zhǔn)的含義是:⒈在規(guī)定的條件下,用一個(gè)可參考的標(biāo)準(zhǔn),對(duì)包括參考物質(zhì)在內(nèi)的測(cè)量器具的特性賦值,并確定其示值誤差⒉將測(cè)量器具所指示或代表的量值,按照校準(zhǔn)鏈,將其溯源到標(biāo)準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值。校準(zhǔn)的目的是:⒈確定示值誤差,并可確定是否在預(yù)期的允差范圍之內(nèi)⒉得出標(biāo)稱值偏差的報(bào)告值,可調(diào)整測(cè)量器具或?qū)κ局导右孕拚辰o任何標(biāo)尺標(biāo)記賦值或確定其他特性值,給參考物質(zhì)特性賦值

儀器校準(zhǔn)的介紹。系統(tǒng)誤差:對(duì)同一被測(cè)量的多次測(cè)量過(guò)程中,保持恒定或以可預(yù)知方式變化的測(cè)量誤差的分量。幾何量:幾何學(xué)中空間位置、形狀與大小的量。直接測(cè)量法:不必測(cè)量與被測(cè)量有函數(shù)關(guān)系的其他量,而能直接得到被測(cè)量值的測(cè)量方法。影響量:不是被測(cè)對(duì)象但影響被測(cè)量值或測(cè)量?jī)x器示值的量。標(biāo)尺標(biāo)記:指示裝置上,對(duì)應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)已確定的被測(cè)量值的刻線或其他標(biāo)記。

對(duì)于計(jì)量校準(zhǔn)技術(shù)人員的資格可以用幾種方式進(jìn)行證明
一是計(jì)量技術(shù)人員應(yīng)有某種學(xué)歷的要求,或經(jīng)過(guò)一定的技術(shù)培訓(xùn)取得培訓(xùn)合格證的人員。
二是在計(jì)量專項(xiàng)領(lǐng)域、工作成就上,取得有關(guān)機(jī)構(gòu)頒發(fā)的評(píng)價(jià)性、榮譽(yù)性證明。
三是本單位在計(jì)量技術(shù)管理上設(shè)置的不同崗位,每個(gè)崗位要有崗位職責(zé),要?jiǎng)偃芜@些職責(zé)就要具備一定的水平,就要進(jìn)行上崗前的考核。這種考核一般由本單位組織進(jìn)行,考核合格的頒發(fā)上崗證。
對(duì)于計(jì)量管理人員,可以用與計(jì)量技術(shù)人員相類似的方式和要求進(jìn)行資格確認(rèn)。只不過(guò)是崗位責(zé)任制內(nèi)容有較大不同,其職責(zé)突出了管理能力和管理項(xiàng)目要求,主要應(yīng)對(duì)管理水平進(jìn)行考核。

常見(jiàn)電磁校準(zhǔn)儀器:高壓源、高壓表、絕緣耐壓測(cè)試儀、靜電參數(shù);功率表、交流電量、電源、電子負(fù)載;半導(dǎo)體器件參數(shù)、晶體管圖示儀、晶體管篩選儀、直流參數(shù)測(cè)試儀。常見(jiàn)無(wú)線電校準(zhǔn)儀器:模擬信號(hào)發(fā)生器、集中參數(shù)阻抗:掃頻儀、LF/RF信號(hào)發(fā)生器、低頻信號(hào)源、高頻信號(hào)源、音頻分析儀、標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器、微波信號(hào)源、電平振蕩器、掃頻信號(hào)發(fā)生器、揚(yáng)聲器Fo測(cè)試儀、噪聲信號(hào)源。計(jì)量校準(zhǔn)分類:無(wú)線電測(cè)量范圍覆蓋從直流到微波頻段、從模擬到數(shù)字領(lǐng)域,可開(kāi)展集總參數(shù)、功率、衰減、脈沖波形參數(shù)、場(chǎng)強(qiáng)、失真、調(diào)制、抖晃、相位等模擬信號(hào)特性以及數(shù)字傳輸特征參數(shù)的校準(zhǔn)。
