數(shù)據(jù)采集卡功能

一個(gè)典型的數(shù)據(jù)采集卡的功能有模擬輸入、模擬輸出、數(shù)字I/O、計(jì)數(shù)器/計(jì)時(shí)器等，這些功能分別由相應(yīng)的電路來(lái)實(shí)現(xiàn)。模擬輸入是采集基本的功能。

它一般由多路開(kāi)關(guān)（MUX）、放大器、采樣保持電路以及A/D來(lái)實(shí)現(xiàn)，通過(guò)這些部分，一個(gè)模擬信號(hào)就可以轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)。A/D的性能和參數(shù)直接影響著模擬輸入的質(zhì)量，要根據(jù)實(shí)際需要的精度來(lái)選擇合適的A/D。模擬輸出通常是為采集系統(tǒng)提供激勵(lì)。幅度分辨率不足數(shù)字轉(zhuǎn)換器使用模擬到數(shù)字轉(zhuǎn)換器(adc)將模擬信號(hào)的樣本轉(zhuǎn)換成數(shù)字值。輸出信號(hào)受數(shù)模轉(zhuǎn)換器（D/A）的建立時(shí)間、轉(zhuǎn)換率、分辨率等因素影響。建立時(shí)間和轉(zhuǎn)換率決定了輸出信號(hào)幅值改變的快慢。建立時(shí)間短、轉(zhuǎn)換率高的D/A可以提供一個(gè)較高頻率的信號(hào)。如果用D/A的輸出信號(hào)去驅(qū)動(dòng)一個(gè)加熱器，就不需要使用速度很快的D/A，因?yàn)榧訜崞鞅旧砭筒荒芎芸斓馗欕妷鹤兓?

高速數(shù)據(jù)采集卡技術(shù)特征：

1.一種高速數(shù)據(jù)采集卡，其特征在于：包括輸入單元、轉(zhuǎn)換和處理數(shù)據(jù)模塊、內(nèi)存讀寫(xiě)模塊、和總線控制接口，其中：所述輸入單元與成像儀連接，用于接收成像儀輸出的視頻信號(hào)；一般而言，PCI、PCIe、USB高速數(shù)據(jù)采集卡工作在室溫環(huán)境下。所述轉(zhuǎn)換和處理數(shù)據(jù)模塊與所述輸入單元連接，接收所述輸入單元輸出的信號(hào)，并對(duì)接收的信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；所述內(nèi)存讀寫(xiě)模塊連接所述轉(zhuǎn)換和處理數(shù)據(jù)模塊，接收所述轉(zhuǎn)換和處理數(shù)據(jù)模塊發(fā)送的數(shù)據(jù)并將數(shù)據(jù)寫(xiě)入內(nèi)存緩存；所述總線控制接口，用于將所述內(nèi)存緩存中的數(shù)據(jù)傳輸至存儲(chǔ)裝置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速數(shù)據(jù)采集卡。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速數(shù)據(jù)采集卡。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速數(shù)據(jù)采集卡。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高速數(shù)據(jù)采集卡。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速數(shù)據(jù)采集卡。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速數(shù)據(jù)采集卡。

8.一種根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的數(shù)據(jù)采集方法。

采集卡的抗干擾問(wèn)題

以下是魯科數(shù)據(jù)為您一起分享的內(nèi)容，魯科數(shù)據(jù)專業(yè)生產(chǎn)高速數(shù)據(jù)采集板卡，歡迎新老客戶蒞臨。

高速數(shù)據(jù)采集卡可能引進(jìn)噪音，主要包括來(lái)自周圍電子器件的隨機(jī)干擾、與激光器發(fā)射相關(guān)的電磁干擾和本底基線偏移。本底基線指激光雷達(dá)系統(tǒng)的暗背景測(cè)量基線，理想情形它是一條水平直線。另外，邏輯分析儀、頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等也屬于超高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)范疇?？墒窃趯?shí)際系統(tǒng)中經(jīng)常觀察到起點(diǎn)偏移，我們稱本底基線偏移。這種偏移很小，但是它不穩(wěn)定，它與真實(shí)的信號(hào)重疊在一起成為測(cè)量誤差。為了能探測(cè)到污染分子的存在，必須很大的提高系統(tǒng)靈敏度，通常要把激光測(cè)量重復(fù)幾千次甚至幾萬(wàn)次以提高信噪比。同時(shí)必須盡量的減小各種干擾，包括這種基線偏移。

實(shí)驗(yàn)證明，減小外觸發(fā)信號(hào)可以減小本底基線偏移；說(shuō)明基線偏移的一個(gè)重要來(lái)源是外觸發(fā)電壓。其產(chǎn)生的原因可能是板卡設(shè)計(jì)上的缺陷，外觸發(fā)信號(hào)的一部分經(jīng)過(guò)分布電容耦合到了信號(hào)輸入端。它們提供了高帶寬，長(zhǎng)采集內(nèi)存以及特殊的采集模式以較大程度地利用內(nèi)存，這些緊湊型儀器提供了高速測(cè)量和精度較高的分析。基線偏移的另一個(gè)重要來(lái)源是激光高壓放電脈沖干擾，它很不穩(wěn)定，與接線情況，地線好壞，板卡設(shè)計(jì)，溫度濕度等都有關(guān)系。