半導體元件除了本身功能要良好之外，其各項參數(shù)能否達到電路上的要求，必須定期測量，否則產(chǎn)品的質(zhì)量特性很難保證，尤其是較大的功率元件，因具有耗損性，易老化及效率降低，因不平衡導致燒毀，甚至在使用中會發(fā)生。工作濕度 9）尖峰抑制電容 用于防止關(guān)斷瞬態(tài)過程中的IGBT器件電壓過沖。所以對新產(chǎn)品及使用中的元件參數(shù)的篩選及檢查更為重要。 半導體元件的每一個參數(shù)，依其極性的不同，都須要一個獨特的測量電路，我公司所設計生產(chǎn)的半導體元件自動測試系統(tǒng)，具有一組繼電器形成的矩陣電路，依每個參數(shù)的定義，形成千變?nèi)f化的電路，再依元件的出廠規(guī)格加上額定的電流或電壓后，在極短的時間內(nèi)將所須要的數(shù)據(jù)量測出來，且有些參數(shù)從量測的數(shù)據(jù)經(jīng)快速運算即可得知其特性是否在規(guī)定范圍內(nèi)。

現(xiàn)今Power MOSFET(金屬氧化物場效晶體管)及IGBT（絕緣柵型場效應晶體管）已成為大功率元件的主流，在市場上居于主導地位。賣方由于自身原因而延遲交貨時，買方有權(quán)按商務規(guī)定方法向賣方收取罰款。由于科技進步，電力電子裝置對輕薄短小及之要求 ,帶動MOSFET及IGBT的發(fā)展，尤其應用于電氣設備、光電、航天、鐵路、電力轉(zhuǎn)換....等領(lǐng)域，使半導體開發(fā)技術(shù)人員在市場需求下，對大功率元件的發(fā)展技術(shù)，持續(xù)在突破。

測試參數(shù)多且完整、應用領(lǐng)域更廣泛，但只要使用其基本的2項功能：「開啟」電流壓降，「關(guān)閉」電流的漏電流，就可知道大功半導體有沒有老化的現(xiàn)象。

?可移動型儀器，使用方便，測試簡單快速，立即提供測試結(jié)果與數(shù)值。

?適用的半導體元件種類多，尤其能測大功率元件。

?用戶能確實掌握新采購元件的質(zhì)量，避免用到瑕疵或品。

?完全由計算機控制、快速的設定參數(shù)。

?適用于實驗室和老化篩選的測試。

?操作非常簡單、速度快。

?完全計算機自動判斷、自動比對。