高壓陶瓷電容器的測驗方法

可靠性高，體積小，充放電壽命長，電壓高達150kV，放電電流大，介質(zhì)損耗＜0.1%。

高壓陶瓷電容器的可靠性測驗，也叫老化測驗，壽數(shù)測驗，包含很多方面的測驗內(nèi)容：

1、串聯(lián)電阻測驗，絕緣電阻測驗；

2、拉力測驗，即引線與芯片焊接的結(jié)實度；

3、正負溫改變率測驗，即-40度到 60度狀況下，電容的改變率；

4、老化測驗，高壓陶瓷電容在模仿作業(yè)環(huán)境狀態(tài)下運作30~60天，測驗其衰減其各項參數(shù)的改變；

5、耐壓試驗，包含額定作業(yè)電壓24小時作業(yè)測驗；也包含擊穿耐壓，即破壞性測驗，電容被擊穿前的那一個臨界電壓就是擊穿電壓。

6、局放測驗，即部分放電測驗；

7、壽數(shù)測驗，即在老化測驗的基礎(chǔ)上，再對電容進行高頻沖電流下快速充放電測驗，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽數(shù)，留意，這個壽數(shù)的得出是在長時間的老化之后得出的。

電容器在yiliao器械中選型及應(yīng)用

新型鉭電容

為解決降低額定電壓的問題，Vishay研發(fā)部門開發(fā)出了具有更高額定電壓等級的新系列SMD固體鉭電容器，額定電壓高達75WVDC.50V額定電壓電容在28V以及更高電壓導(dǎo)軌中的應(yīng)用引起了設(shè)計人員的擔心，而采用Vishay新型的63V和75V鉭電容，可達到額定電壓降低50%的行業(yè)認可安全指標。電介質(zhì)成形更薄、更一致，使SMD固體鉭電容的額定電壓能夠達到75V，從而實現(xiàn)了提高額定電壓的技術(shù)突破。成形工藝中對多道工序進行了改進：降低了成形加工過程中產(chǎn)生的機械應(yīng)力集中，降低了電容成形過程中電解液的局部過熱，提高了電介質(zhì)成形過程中電解液濃度和純度的一致性。其實選用電容時不僅僅是只看容量和封裝，具體要看產(chǎn)品所使用環(huán)境，特殊的電路必須用特殊的電容。新型電容T97系列的額定電壓達75V，83系列達63V.