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發(fā)布時(shí)間:2020-12-11 11:27  

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故障特點(diǎn) /電子元器件

電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件雖然數(shù)量,但其故障卻是有規(guī)律可循的。

查找損壞的電解電容方法有:

(1)看:有的電容損壞時(shí)會(huì)漏液,電容下面的電路板表面甚至電容外表都會(huì)有一層油漬,這種電容絕1對(duì)不能再用;精細(xì)間距器件的局限性在于細(xì)引線易彎曲、質(zhì)脆而易斷,對(duì)于引線間的共平面度和貼裝精度的要求很高。有的電容損壞后會(huì)鼓起,這種電容也不能繼續(xù)使用;因此,在前期選擇電容的時(shí)候,就應(yīng)該把好質(zhì)量關(guān),盡量選擇品牌的電容,如電容巨頭——國巨電容。

(2)摸:開機(jī)后有些漏電嚴(yán)重的電解電容會(huì)發(fā)熱,用手指觸摸時(shí)甚至?xí)C手,這種電容更換;

(3)電解電容內(nèi)部有電解液,長時(shí)間烘烤會(huì)使電解液變干,導(dǎo)致電容量減小,要重點(diǎn)檢查散熱片及大功率元器件附近的電容,離其越近,損壞的性就越大。



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在當(dāng)今信息時(shí)代,隨著電子工業(yè)的迅猛發(fā)展,計(jì)算機(jī)、移動(dòng)電話等產(chǎn)品日益普及。人們對(duì)電子產(chǎn)品的BGA封裝功能要求越來越多、對(duì)性能要求越來越強(qiáng),而體積要求卻越來越小、重量要求越來越輕。這就促使電子產(chǎn)品向多功能、和小型化、輕型化方向發(fā)展。電子元器件在質(zhì)量方面國際上面有中國的CQC認(rèn)證,美國的UL和CUL認(rèn)證,德國的VDE和TUV以及歐盟的CE等國內(nèi)外認(rèn)證,來保證元器件的合格。為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo),IC芯片的特征尺寸就要越來越小,復(fù)雜程度不斷增加,于是,電路的I/O數(shù)就會(huì)越來越多,封裝的I/O密度就會(huì)不斷增加。為了適應(yīng)這一發(fā)展要求,一些先進(jìn)的高密度封裝技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,BGA封裝技術(shù)就是其中之一。


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超過三個(gè)圖像切片就能夠獲得不可拆B(yǎng)GA的焊接點(diǎn)情況,“印刷電路權(quán)焊料切片”中心定位于印刷電路板焊盤界面上,低共熔點(diǎn)焊料焊接輪廓內(nèi),“焊料球切片”中心定位引線焊球(lead solder ball)內(nèi),“元器件焊盤切片”中心定位于元器件界面的低共熔點(diǎn)焊料焊接輪廓線內(nèi)。在測(cè)試中,若正向、反向均無充電的現(xiàn)象,即表針不動(dòng),則說明容量消失或內(nèi)部斷路??刹鹦禕GA焊接點(diǎn),通過兩個(gè)或者更少的圖像“切片”就可以反映其全部特征,圖像“切片”中心可以定價(jià)于印刷電路板的焊盤界面處,也可以是在元器件界面處或者僅僅是在元器件和印刷電路板之間的一半位置處。