一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

能量色散X熒光光譜儀定義及原理

X射線熒光光譜儀是一種可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。試樣受X射線照射后，其中各元素原子的內(nèi)殼層（K，L或M層）電子被激發(fā)逐出原子而引起電子躍遷，并發(fā)射出該元素的特征X射線熒光。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。每一種元素都有其特定波長(zhǎng)的特征X射線。能散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）利用熒光X射線具有不同能量的特點(diǎn)，由探測(cè)器本身的能量分辨本領(lǐng)來(lái)分辨探測(cè)到的X射線。

測(cè)試面積是測(cè)厚儀器的一項(xiàng)很重要的參數(shù)，主要由準(zhǔn)直器控制組成，但也受其它條件限制：

    1、受高壓、光管限制，因?yàn)樾枰@兩裝置提供足夠熒光強(qiáng)度和聚焦。

    2、受儀器結(jié)構(gòu)限制，相同的準(zhǔn)直器因安裝的位置及與探測(cè)器的角度都影響測(cè)量面積，同樣是直徑0.2mm準(zhǔn)直器Thick800A測(cè)量面積達(dá)到直徑0.4mm，EDX1800B測(cè)量面積達(dá)到直徑0.5mm，CMI900測(cè)量面積達(dá)到0.3mm,而XTU-A面積可以達(dá)到0.218.

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。 

能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。   

光譜分析儀可以說是檢測(cè)儀器中的“超能先生”，在生物、能源環(huán)境、食品安全等領(lǐng)域都能看到它的身影。以食品檢測(cè)為例，常買糧食的朋友應(yīng)該都知道，零食的包裝上有一個(gè)營(yíng)養(yǎng)成分表，用來(lái)向消費(fèi)者展示食品中的熱量、脂肪、蛋白質(zhì)、碳水化合物、鈉等主要營(yíng)養(yǎng)成分的含量，而這些數(shù)據(jù)的獲得就離不開光譜分析儀。3．標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測(cè)覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。儀器通過對(duì)物品材料發(fā)散近紅外線，活躍材料中的分子，通過分子振動(dòng)反射的光纖，根據(jù)光線的獨(dú)特光學(xué)特征識(shí)別，由此確認(rèn)材料的化學(xué)成分組成。

　　我們身邊的儀器遠(yuǎn)不止此，或許正如動(dòng)畫中超人也有自己辦不到的事，科學(xué)儀器功能也有限，但相對(duì)的，儀器都有各自發(fā)光發(fā)熱的領(lǐng)域。不同的儀器在不同的領(lǐng)域各司其職，守護(hù)人類健康，為人類發(fā)展出力。

工業(yè)時(shí)代的科技是現(xiàn)代科技，科技是國(guó)之利器，國(guó)家要強(qiáng)大、人民生活要不斷改善，必須依托于強(qiáng)大科技?？茖W(xué)儀器在我國(guó)科技發(fā)展中起到的重要作用是不容忽視的，希望未來(lái)能夠看到更多拔萃的科學(xué)儀器為我國(guó)科技發(fā)展做出貢獻(xiàn)。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

X射線熒光光譜分析儀結(jié)構(gòu)及組成：用X射線照射式樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長(zhǎng)（或能量）分開，分別測(cè)量不同波長(zhǎng)（或能量）的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此試用的儀器叫X射線熒光光譜儀。利用XRF無(wú)損分析技術(shù)檢測(cè)鍍層厚度的儀器就叫X射線測(cè)厚儀，又膜厚測(cè)試儀，鍍層檢測(cè)儀，XRF測(cè)厚儀，PCB鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層測(cè)厚儀等。由于X光具有一定的波長(zhǎng)，同事又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有2種基本類型：波長(zhǎng)色散型（WD）和能量色散性（ED）。

波長(zhǎng)色散型是由色散元件將不同波長(zhǎng)的特征X射線衍射到不同的角度上，探測(cè)器需移動(dòng)到想要的位置上來(lái)探測(cè)某一波長(zhǎng)能量的射線。而能量色散型，是由探測(cè)器本身的能量分辨本領(lǐng)直接探測(cè)X射線的能量。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀X熒光涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)試原理同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。波長(zhǎng)色散型譜線分辨本領(lǐng)高，而能量色散型可同時(shí)測(cè)量多條譜線的能量。