三維形貌測量儀對于樣品表面特性研究案例

材料科學(xué)的目標是研究材料表面結(jié)構(gòu)對于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析表面形貌對確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。

符合國際標準的NanoFocus測量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測量需求，滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化，這意味著在縮短開發(fā)時間的同時降低成本。

便攜式光學(xué)三維表面形貌測量儀測量大件樣品的優(yōu)勢

攜式光學(xué)三維表面形貌測量系統(tǒng)是專門針對軋輥、車身等大型物體的測量而開發(fā)的，重量僅有5.5公斤。該表面測量系統(tǒng)可攜帶到現(xiàn)場并且在幾分鐘內(nèi)即可準備完畢投入使用。由于集成自動對焦功能，其也可以勝任沿軋輥徑向的大范圍測量。

應(yīng)用于產(chǎn)線的便攜式三維測量技術(shù)

基于穩(wěn)定的NanoFocus技術(shù)，便攜式三維測量系統(tǒng)即使在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境下也可以使用。MarSurf CM mobile測量速度很快，典型三維測量時間只需5-10秒。由于這些特點，該系統(tǒng)非常適用于部署在整個產(chǎn)業(yè)鏈。

配置和選項

 三維表面形貌儀是一款光學(xué)表面形貌儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標準方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺階高度，距離，面積，角度和體積進行多范圍測量。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項式配置、數(shù)據(jù)配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。采用白光軸向色差原理（性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀）對樣品表面進行快速、重復(fù)性高、高分辨率的三維測量，測量范圍可從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌。