全部充滿的電池不能完成多次熔接

?如果不開啟節(jié)電功能，每次熔接的電池容量消耗將增大，從而減少熔接次數(shù)。

?由于電池內(nèi)部是由化學(xué)物質(zhì)組成，所以溫度過低會導(dǎo)致容量降低，尤其是在零度以下更為嚴(yán)重。

?在高海拔地區(qū)，為保證熔接質(zhì)量，設(shè)備的熔接放電電流將會增大。在這種條件下，電池容量下降速度較低海拔地區(qū)的速度要快。

?交流適配器不能正確的給電池充電。

新手使用光纖熔接機易犯的幾個錯誤（4）

光纖出現(xiàn)微彎曲：

   光纖出現(xiàn)微彎曲一般是光纖上過度的壓力導(dǎo)致的，光纖微彎曲會導(dǎo)致信號質(zhì)量下降，而且這種問題光憑肉眼很難發(fā)現(xiàn)，除非用OTDR去檢查。

   是什么造成光纖微彎曲？應(yīng)該是光纖上過度的壓力。常見的原因是當(dāng)固定光纜時過緊。其他造成光纖微彎曲的原因可能是光纜在設(shè)備面板轉(zhuǎn)軸位置造成的。

   對于光纖熔接來說，一個好的選項是使用透明的套管來包裝熔接點。這種松套管會塑形到透明套管形成緊密的封裝。然后這些透明套管被放入接線盤中并固定。固定的結(jié)會在硬塑料套管外層自由滑動。這可以避免光纖移動時任何擠壓，造成今后不必要的許多問題。

OTDR脈沖寬度和平均時間設(shè)置

  理論上講，對于同一段光纖，脈沖寬度越大，距離測試誤差就越大。但是若脈沖寬度很小，則不能準(zhǔn)確識別光纖末端與噪聲電平的界線。OTDR操作人員應(yīng)根據(jù)實際情況選擇適當(dāng)?shù)拿}沖寬度，原則是在保證能識別光纖末端的情況下，盡可能地小地設(shè)置脈沖寬度。

在保證能識別光纖末端的情況下，盡可能小地設(shè)置脈沖寬度

   一般來說，很難機械地定義測試距離與所用脈沖寬度的關(guān)系，因為每根光纖的衰耗不同，很難用標(biāo)準(zhǔn)的尺度去衡量到底用多大的脈沖寬度去測試一定距離的光纖。但是，有兩個原則是必須把握的：

  1、用盡可能小的脈沖寬度去測試光纖，這樣距離和衰耗的精度才能得到保證。只有脈沖寬度小到能夠能夠看到大致的曲線形狀，就可以通過平均來測出曲線。

  2、當(dāng)OTDR脈沖寬度確定以后，所選取的平均時間應(yīng)該足夠長，一般在15秒至60秒之間。被測光纖越長，平均時間約長（同時脈沖寬帶也約大）。