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發(fā)布時(shí)間:2020-10-09 11:03  

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故障特點(diǎn) /電子元器件

電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件雖然數(shù)量,但其故障卻是有規(guī)律可循的。

半導(dǎo)體器件損壞特點(diǎn)

二、三極管的損壞是PN結(jié)擊穿或開(kāi)路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn):一是熱穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)時(shí)正常,工作一段時(shí)間后,發(fā)生軟擊穿;另一種是PN結(jié)的特性變差,用萬(wàn)用表R×1k測(cè),各PN結(jié)均正常,但上機(jī)后不能正常工作,用R×10或R×1低量程檔測(cè),就會(huì)發(fā)現(xiàn)其PN結(jié)正向阻值比正常值大。由于,電子計(jì)算機(jī)發(fā)展經(jīng)歷的四個(gè)階段恰好能夠充分說(shuō)明電子技術(shù)發(fā)展的四個(gè)階段的特性,所以下面就從電子計(jì)算機(jī)發(fā)展的四個(gè)時(shí)代來(lái)說(shuō)明電子技術(shù)發(fā)展的四個(gè)階段的特點(diǎn)。測(cè)量二、三極管可以用指針萬(wàn)用表在路測(cè)量,較準(zhǔn)確的方法是:將萬(wàn)用表置R×10或R×1檔(用R×10檔,不明顯時(shí)再用R×1檔)在路測(cè)二、三極管的PN結(jié)正、反向電阻,正向電阻不太大(正常值),反向電阻足夠大(正向值),表明該P(yáng)N結(jié)正常,反之就值得懷疑,需焊下后再測(cè)。這是電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐,用萬(wàn)用表低阻值檔在路測(cè)量,可以基本忽略外圍電阻對(duì)PN結(jié)電阻的影響。



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檢測(cè)方法/電子元器件

電位器的檢測(cè)。電子器件:在真空、氣體或固體中,利用和控制電子運(yùn)動(dòng)規(guī)律而制成的器件。檢查電位器時(shí),首先要轉(zhuǎn)動(dòng)旋柄,看看旋柄轉(zhuǎn)動(dòng)是否平滑,開(kāi)關(guān)是否靈活,開(kāi)關(guān)通、斷時(shí)“喀噠”聲是否清脆,并聽(tīng)一聽(tīng)電位器內(nèi)部接觸點(diǎn)和電阻體摩擦的聲音,如有“沙沙”聲,說(shuō)明質(zhì)量不好。用萬(wàn)用表測(cè)試時(shí),先根據(jù)被測(cè)電位器阻值的大小,選擇好萬(wàn)用表的合適電阻擋位,然后可按下述方法進(jìn)行檢測(cè)。

A 用萬(wàn)用表的歐姆擋測(cè)“1”、“2”兩端,其讀數(shù)應(yīng)為電位器的標(biāo)稱(chēng)阻值,如萬(wàn)用表的指針不動(dòng)或阻值相差很多,則表明該電位器已損壞。

B 檢測(cè)電位器的活動(dòng)臂與電阻片的接觸是否良好。用萬(wàn)用表的歐姆檔測(cè)“1”、“2”(或“2”、“3”)兩端,將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時(shí)針?lè)较蛐两咏瓣P(guān)”的位置,這時(shí)電阻值越小越好。檢測(cè)方法/電子元器件電解電容器的檢測(cè)將萬(wàn)用表紅表筆接負(fù)極,黑表筆接正極,在剛接觸的瞬間,萬(wàn)用表指針即向右偏轉(zhuǎn)較大偏度(對(duì)于同一電阻擋,容量越大,擺幅越大),接著逐漸向左回轉(zhuǎn),直到停在某一位置。再順時(shí)針慢慢旋轉(zhuǎn)軸柄,電阻值應(yīng)逐漸增大,表頭中的指針應(yīng)平穩(wěn)移動(dòng)。當(dāng)軸柄旋端位置“3”時(shí),阻值應(yīng)接近電位器的標(biāo)稱(chēng)值。如萬(wàn)用表的指針在電位器的軸柄轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中有跳動(dòng)現(xiàn)象,說(shuō)明活動(dòng)觸點(diǎn)有接觸不良的故障。



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CBGA 封裝的優(yōu)點(diǎn)如下:1、氣密性好,抗?jié)駳庑阅芨?,因而封裝組件的長(zhǎng)期可靠性高;2、與 PBGA 器件相比,電絕緣特性更好;3、與 PBGA 器件相比,封裝密度更高;4、散熱性能優(yōu)于 PBGA 結(jié)構(gòu)。


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SMT技術(shù)進(jìn)入90年代以來(lái),走向了成熟的階段,但隨著電子產(chǎn)品向便據(jù)式/小型化、網(wǎng)絡(luò)化和多媒體化方向的迅速發(fā)展,對(duì)電子組裝技術(shù)提出了更高的要求,新的高密度組裝技術(shù)不斷涌現(xiàn),其中BGA(Ball Grid Array球柵陣列封裝)就是一項(xiàng)已經(jīng)進(jìn)入實(shí)用化階段的高密度組裝技術(shù)。橫截面X射線檢測(cè)技術(shù)具有能夠查出隱藏的焊接點(diǎn)缺陷的能力,通過(guò)對(duì)焊盤(pán)層焊接點(diǎn)的聚焦,能夠揭示出BGA焊接點(diǎn)的連接情況。本文試圖就BGA器件的組裝特點(diǎn)以及焊點(diǎn)的質(zhì)量控制作一介紹。