ICP光譜儀故障簡單排除方法

在ICP光譜分析中，ICP光譜儀出現各種各樣的故障問題是難免的，故障的產生將給測試工作帶來許多的不利因素，如果操作者掌握一些儀器故障的簡單排除方法，會給日常測試工作帶來很大便利。

如果遇到復雜的儀器故障問題，操作者如果能準確而詳盡地描述故障現象，也會給維修人員給予極大的幫助，使廠家維修人員可以不再現場的情況下對儀器的故障正確判斷，有的故障可以通過電話指導幫助操縱人員排除;即使相對復雜的問題，廠家維修人員也能在現場時做好充足的準備工作，使故障問題可以盡快解決。在PRODIGY儀器中，由于儀器本身有恒溫系統(tǒng)，操作人員只要控制儀器達到恒溫條件，即可正常進行分析測量，無須頻繁校正光學系統(tǒng)。

目前各個廠家各個型號的ICP光譜儀計算機系統(tǒng)都有它自己的診斷程序，在診斷程序的幫助下會給操作者提供正確的檢查方法，方便操作者查找儀器的故障，所以在儀器出現故障時，操作者首先要確認儀器的計算機系統(tǒng)是否正常工作，根據計算機系統(tǒng)的提示尋找故障部位。該法對低沸點和容易揮發(fā)的元素Hg、As、Se、Te、Sb的測定個適用。

另外操作者還可以通過聽、看和摸等方式來確定儀器故障。

ICP光譜儀的故障與其使用環(huán)境、儀器的性能、操作人員的業(yè)務能力及日常維護水平密切相關。其故障可分為性能故障和使用故障兩大類。

性能故障時由于儀器本身設計或安裝或某些元器件不符合要求而引起;使用故障時儀器的使用環(huán)境不符合儀器的要求，或是由于操作者未按照規(guī)定要求使用和維護儀器不當而引起的。當看到溶液段將吸不吸時，先停止旋動旋鈕，接著在它上面做個刻度記號，后再擰多一圈半，這樣就調好了。同一個故障既可能有性能故障引起，也能由使用故障而引起，因此要根據儀器故障現象來一一識別。

ICP光源觀察方式

雙向觀測：雙向觀測是在水平觀測ICP光源的基礎，增加一套側向采光光路，實現垂直/水平雙向觀測，即在炬管垂直觀測的方向依次放置3塊反射鏡，當要使用垂直觀測的時候，就通過3塊反射鏡把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通過旋轉原光路的塊反射鏡，使垂直方向來的光與原水平方向來的光在整個光路中重合。如果想提前安裝，可以詢問廠家，一般廠家都會提供一個詳細的安裝圖紙，可以按圖紙安裝。該觀測方式的切換反射鏡由計算機控制，該方式融合了軸向、徑向的特點，具有一定的靈活性，增強了測定復雜樣品的能力。改觀測方式可實現以下3中方式的測量：

①全部元素譜線水平測量。

②全部元素譜線垂直測量。

③部分元素譜線水平測量，部分元素譜線垂直測量。

雙向觀測能有效解決水平觀測中存在的電子干擾，進一步擴寬線性范圍。但是該觀測方式需要不斷地切換反射鏡，可 能導致儀器的穩(wěn)定性變差。由于徑向觀測的需要，炬管側面必須開口，導致炬管的壽命大大降低，同時也改變了炬焰的形狀。隨著電腦在光譜儀中的應用，使儀器的檢測水平大幅提高，功能更智能，許多故障都可以通過電腦自帶的診斷程序進行檢測。炬管開口處必須嚴格與光路對準，要不然炬管壁容易積累鹽，會使檢測結果嚴重錯誤;同時如果在開口出現積鹽同樣也會導致儀器檢測結構存在嚴重的錯誤，必須注意清洗。而且增加了曝光次數，降低了分析速度，增加了分析消耗。

ICP光譜儀的工作房間需要注意什么?

ICP光譜儀的工作房間需要注意什么?請原子發(fā)射光譜儀廠家來為我們介紹一下。

首先對氣候比較濕潤地區(qū)的用戶，必須配置大于50L的除濕機一臺，不然光譜分析儀由于受潮難于正常工作。例如在梅雨季節(jié)光譜分析儀發(fā)生故障的頻次比其他季節(jié)要高，原因就是空氣中的濕度高造成的。

其次房間地面應該采用防潮處理，工作房間不應該選擇樓底，二樓比較合適，平時地面不應該用濕拖把清掃地面，吸塵器或半干拖布來處理;如果不常用，每天必須通電一次，通過部分電量損失發(fā)熱出去電子元件上的水分，梅雨季節(jié)更要經常開機，利用內部散發(fā)的熱量來除潮;電器元件受潮后會降低絕緣性能，可用熱吹風吹干，禁止貿然使用，否則會擊穿電器元件發(fā)生短路造成光譜分析儀電路系統(tǒng)被燒毀;對于比較干燥的地區(qū)，可以根據室內濕度波動酌情處理，如果常年大部分時間濕度都保持在(55±10)%RH波動，可不配置除濕機。ICP光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時，所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。

ICP光譜儀的校正方法

波長校正

波長校正是為使實際波長同檢測器檢出波長相一致。大致可分為兩分部：首先通調整儀器來對光譜儀進行校正，然后是通過漂移補償的辦法減少因環(huán)境的變換導致譜線產生位移。如果希望用同一工作曲線同時分析高、中、低合金鋼，那就都要用“相對濃度”來校正基體含量的影響。光譜校正是儀器實際測得的波長與理論波長之間出現的偏差別進行的校正，一般是通過測試一系列元素的波長來進行校正，校正后所得數據即為對光譜彼進行校正的校正數據。

漂移補嘗是因為光普儀光譜線位移與波長、溫度、濕度、壓力變化之間有非線性函數關系，這種函數關系具有普遍適用性。其中零級光譜線隨波長、溫度變化產生的位移。ICP光譜儀的校正方法波長校正波長校正是為使實際波長同檢測器檢出波長相一致。漂移補償是一種常規(guī)監(jiān)視過程，其原理是在進樣間歇期間，監(jiān)測多條氫線波長，將實際值與理論值相比較，并對誤差進行補償。

ICP光譜儀主要用于微量元素的分析，可分析的元素為大多數的金屬和硅、磷、 硫等少量的非金屬，共 72 種。廣泛地應用于質量控制的元素分析，超微量元素 的檢測，尤其是在環(huán)保領域的水質監(jiān)測。在嚴格按操作程序操作，并排除人為誤操作的基礎上，再分析儀器自身運行是否存在問題。還可以對常量元素進行檢測，例如組分 的測量中，主要成分的元素測定。