相位差光學材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

購買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

2、關于尺碼

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

3、關于顏色

4、關于客服

客戶全天24小時在線，如需緊急處理，請致電公司 。

5、關于售后

日本產(chǎn)品保修一年，消耗品不再維修范圍內(nèi)。

本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。

本設備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。通過多折射位相差（RE.）來計算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，測定精度高。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

測定haze補正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補正table. 反復性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準樣本(偏光板)的測量結(jié)果（0.1s間隔 定點15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉(zhuǎn)治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準面，只反轉(zhuǎn)樣品進行測定。因本系統(tǒng)為精密光學測定裝置，作為設置場所，請考慮以下條件。

偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。

本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準備Recipe（測量條件File）所以Operator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實現(xiàn)測量。

設置場所    　：　屋內(nèi)設置（避免太陽直射）

   周圍溫度    ：２０～３5℃ 不存在溫度急劇變化的場合

   相對濕度    ：３０～８０％

   周圍環(huán)境    ： 濕氣、灰塵少、無腐蝕性氣體、換氣良好

   電壓　    ：　AC110V±10V（單相）

             ：沒有急劇的負載變化 。  

             ：附近沒有顯著噪聲源。接地應該是接地電阻１００Ω以下。