FE3000反射式膜厚量測儀:產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長及步值，實現(xiàn)自動測量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標(biāo)曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

半積分球。大塚電子獨有專利，提高積分球測試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內(nèi)獨i家）；(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨有專利，i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對粉末和固體測試精度提高明顯（世界范圍內(nèi)獨i家）；(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統(tǒng)（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數(shù)量5個），尺寸直徑≤10mm

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

  下圖為積分半球光學(xué)系統(tǒng)。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會與實際情況有所不同。(本次系統(tǒng)采用的是積分半球)。