光譜儀器是測量、分析和處理物質(zhì)結(jié)構(gòu)和成分的基本設(shè)備，按光譜范圍可分為真空紫外光譜儀、紫外-近紅外光譜儀和紅外光譜儀。

光譜儀主要由光源、分光系統(tǒng)和接收系統(tǒng)3部分組成。其中分光系統(tǒng)是光譜儀器的主體，而衍射光柵（以下簡稱光柵）是分光系統(tǒng)的核心部分，它使復(fù)色光發(fā)生空間分離形成光譜。因此，光譜技術(shù)的進步及發(fā)展與光柵制造技術(shù)水平息息相關(guān)。遠(yuǎn)程支持（M2M）服務(wù)可在線提供，由遠(yuǎn)程在線的SPECTRO技術(shù)專家及時提供技術(shù)支持。根據(jù)光譜儀器的工作原理，光柵在較寬的波段范圍都有較高的衍射效率（衍射光能量與入射光能量之比），同時整個衍射效率曲線比較平滑，這是光柵制造領(lǐng)域始終追求的目標(biāo)之一。而相較于單閃耀角光柵，寬波段光柵在光譜分析領(lǐng)域具有更獨特且不可替代的優(yōu)勢，其光譜更寬，能滿足多種光譜儀全波段使用的需求，使成像探測器更加簡單。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在實際分析中會受到第三元素的影響，這些干擾從何而來，我們能夠克服它們得到一個好的分析結(jié)果嗎？直讀光譜儀應(yīng)用的過程中受那些干擾?直讀光譜儀中有關(guān)第三元素影響的問題

當(dāng)選擇了不適宜的基體內(nèi)標(biāo)時，由于基體含量的變化造成分析線對相對強度的變化，影響結(jié)果的穩(wěn)定。當(dāng)用鐵內(nèi)標(biāo)進行低合金鋼分析時，要求基體含量基本不變。

第三元素的存在影響試樣的蒸發(fā)過程。蒸發(fā)過程對譜線強度的影響是復(fù)雜的，所得研究規(guī)律還很不完善，仍屬定性的經(jīng)驗規(guī)律。所以分析時應(yīng)采用與試樣組成及組織結(jié)構(gòu)盡量一致的標(biāo)準(zhǔn)樣品或控制樣品。

次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

“先人后機”，先排除人為失誤，再檢查儀器工作情況。任何儀器都是靠人來操作的，所以在儀器出現(xiàn)數(shù)據(jù)出錯或是異常時，首先判斷是否存在人為的問題，如在操作程序時是否輸錯數(shù)據(jù)，敲錯鍵盤，點錯鼠標(biāo)，調(diào)錯氣壓表或流量計指示，忘記打開或多打開某個開關(guān)，看錯某些標(biāo)志等。全數(shù)字信號發(fā)生配合全數(shù)字能量輸出，確保激發(fā)區(qū)等離子體能量超高分辨率和高保真輸出。在嚴(yán)格按操作程序操作，并排除人為誤操作的基礎(chǔ)上，再分析儀器自身運行是否存在問題。

“先外后內(nèi)”，先檢查儀器外圍設(shè)施，再檢查儀器本身。儀器突然整機停電不工作了，首先檢查儀器的外圍情況，如冷卻水是否中斷，水泵或水閘閥是否異常，燃?xì)饣蜉o助氣氣壓是否偏低或過高，電磁閥是否失電或斷路，電氣開關(guān)或空氣開關(guān)是否跳閘，各外部接插件是否脫落等。然后再尋找儀器本身內(nèi)部的問題。透鏡安裝在光譜儀的分光室和火花室之間，起隔離分光室和火花室及匯聚譜線的作用。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制