光澤度計的角度大多可以分為一下幾種

光澤度計的角度大多可以分為一下幾種，20°，45°，60°，75°，85°等，當然，為了順應時代的潮流，有些光澤度儀廠家想辦法創(chuàng)新方法，也會推出一些智能型的光澤儀，例如速德瑞雙角度光澤儀或者三角度光澤度儀(SDR268)。一般情況下，我們把20°的稱為低光澤儀，85°稱為高光澤儀。一般市場上使用較多的就是60°光澤儀。

光澤度儀測試過程中需要注意哪些問題

檢測塑料的光澤度的目的在于根據(jù)數(shù)據(jù)檢查評估產(chǎn)品的質量好壞，并指出生產(chǎn)條件是否與材料表面光澤度有關系。塑料的折射率范圍大致在1.4~1.6，光澤度大體在70~110光澤度單位之內，但透明塑料及半透明塑料其反光情況是不一樣的，不能一概而論。 光澤度儀測試過程中需要注意哪些問題： 首先，儀器的校準板一定要保證干凈，不能有灰塵及污漬，因為標準板不干凈會導致整個測試數(shù)據(jù)的不準確，是直接放在儀器底座。 其次，儀器開機一定要有自檢自校功能，自動診斷，及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)錯誤、操作不當、標準版污損所引起的儀器通不過自校準的問題。 再次，儀器在使用完后，存放環(huán)境應避開熱源、腐蝕物，存儲在干燥的地方。

了解涂層測厚儀器基本知識及測量應用

了解涂層測厚儀器基本知識及測量應用

　　★對材料表面維護、裝修構成的覆蓋層，如涂層、鍍層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、外表工程質量檢查的重要一環(huán)，是商品到達優(yōu)等質量標準的必備手法。為使商品國際化，中國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了清晰的要求。

　　★覆層厚度的測量辦法首要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些辦法中前五種是有損檢查，測量手法繁瑣，速度慢，多適用于抽樣查驗。

　　★X射線和β射線法是無觸摸無損測量，但設備雜亂貴重，測量規(guī)模較小。因有源，使用者有必要恪守射線防護標準。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適宜鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時選用。

　　★隨著技能的日益前進，特別是這些年引進微機技能后，選用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可到達1%，有了大幅度的進步。

　　★它適用規(guī)模廣，量程寬、操作簡潔且價廉，是工業(yè)和科研使用*廣泛的涂層測厚儀器;選用無損辦法既不損壞覆層也不損壞基材，檢查速度快，能使很多的檢查作業(yè)經(jīng)濟地進行。