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發(fā)布時(shí)間:2021-01-01 16:56  
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如何選擇重慶二維測(cè)量?jī)x
如何選擇影像測(cè)量?jī)x呢?接下來小編為大家詳細(xì)介紹一下:
1、根據(jù)測(cè)試工件的尺寸選擇所需測(cè)量行程,行程小了將無法進(jìn)行產(chǎn)品量測(cè),行程太大則價(jià)格更高。
2、了解測(cè)量軟件的各種功能,一些功能鍵可以極高的提升測(cè)量效率,縮短測(cè)量時(shí)間。
3、了解各關(guān)鍵配件的技術(shù)規(guī)格,如機(jī)器是否進(jìn)口,光柵尺的精度和使用壽命等等。
4、了解設(shè)備在自動(dòng)測(cè)量時(shí)的具體情況,尤其是在測(cè)量一些弱邊特征(如過渡曲線、加工圓角等)時(shí)能否完成自動(dòng)抓取。
5、保證設(shè)備具有準(zhǔn)確的Z軸測(cè)量功能,可以不配選件就完成Z軸測(cè)量任務(wù)的設(shè)備提升設(shè)備的功能性。
6、產(chǎn)品的價(jià)格,性價(jià)比高才是好的要求嘛。不能一味追求價(jià)格低廉而放棄產(chǎn)品品質(zhì)的要求,必須保障產(chǎn)品的質(zhì)量,才能免除后續(xù)使用過程當(dāng)中的種種麻煩。
重慶二維測(cè)量?jī)x功能
功能:包括三次元、二次元、工具顯微鏡、投影儀的功能。
功能強(qiáng)大的2D/3D測(cè)量系統(tǒng)
1、發(fā)光學(xué)座標(biāo)系統(tǒng)為基點(diǎn)測(cè)量產(chǎn)品的任意二維尺寸。
2、探針座標(biāo)系統(tǒng)為基點(diǎn)測(cè)量產(chǎn)品的三維空間及二維平面尺寸。
3、采用相同的座標(biāo)系統(tǒng),使用測(cè)頭的三維測(cè)量可與影像二維混合使用或使用影像的二維平面與三維立體測(cè)量較好結(jié)合。
全自動(dòng)編程:光學(xué)測(cè)量及探針測(cè)量可同時(shí)在一組編程中混合使用。
影像測(cè)量?jī)x構(gòu)成的要素
CCD,中文全稱:電荷耦合元件??梢苑Q為CCD圖像傳感器。CCD是一種半導(dǎo)體器件,能夠把光學(xué)影像轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)。CCD上植入的微小光敏物質(zhì)稱作像素(Pixel)。一塊CCD上包含的像素?cái)?shù)越多,其提供的畫面分辨率也就越高。CCD的作用就像膠片一樣,但它是把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電荷信號(hào)。CCD上有許多排列整齊的光電二極管,能感應(yīng)光線,并將光信號(hào)轉(zhuǎn)變成電信號(hào),經(jīng)外部采樣放大及模數(shù)轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像信號(hào)。
二次元影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量原則:
1、基本測(cè)量原則
在實(shí)際測(cè)量中,對(duì)于同一被測(cè)量往往可以采用多種測(cè)量方法。為減小測(cè)量不確定度,應(yīng)盡可能遵守以下基本測(cè)量原則:
?。?)阿貝原則:要求在測(cè)量過程中被測(cè)長(zhǎng)度與基準(zhǔn)長(zhǎng)度應(yīng)安置在同一直線上的原則。若被測(cè)長(zhǎng)度與基準(zhǔn)長(zhǎng)度并排放置,在測(cè)量比較過程中由于制造誤差的存在,移動(dòng)方向的偏移,兩長(zhǎng)度之間出現(xiàn)夾角而產(chǎn)生較大的誤差。誤差的大小除與兩長(zhǎng)度之間夾角大小有關(guān)外,還與其之間距離大小有關(guān),距離越大,誤差也越大。
?。?)基準(zhǔn)統(tǒng)一原則:測(cè)量基準(zhǔn)要與加工基準(zhǔn)和使用基準(zhǔn)統(tǒng)一。即工序測(cè)量應(yīng)以工藝基準(zhǔn)作為測(cè)量基準(zhǔn),終檢測(cè)量應(yīng)以設(shè)計(jì)基準(zhǔn)作為測(cè)量基準(zhǔn)。
2、較短鏈原則
在間接測(cè)量中,與被測(cè)量具有函數(shù)關(guān)系的其它量與被測(cè)量形成測(cè)量鏈。形成測(cè)量鏈的環(huán)節(jié)越多,被測(cè)量的不確定度越大。因此,應(yīng)盡可能減少測(cè)量鏈的環(huán)節(jié)數(shù),以保證測(cè)量精度,稱之為較短鏈原則。