甚低頻技術(shù)對(duì)金屬勘探有很強(qiáng)的識(shí)別能力

甚低頻技術(shù)對(duì)金屬勘探有很強(qiáng)的識(shí)別能力。由于大多數(shù)金屬具有不同的電導(dǎo)和電阻值，甚低頻金屬檢測(cè)器可以使用一對(duì)稱為相位解調(diào)器的電子電路來(lái)測(cè)量相移，并將測(cè)量數(shù)據(jù)與某種金屬的平均相移值進(jìn)行比較。然后，探礦者將通過(guò)聽(tīng)覺(jué)或視覺(jué)信號(hào)通知探礦者政策對(duì)象可能位于的金屬類型。更的探索者甚至支持設(shè)置多個(gè)忽略間隔。例如，取景器可以被設(shè)置為忽略與易拉罐或小釘子的拉環(huán)的相移間隔相對(duì)應(yīng)的對(duì)象。識(shí)別和忽略功能的缺點(diǎn)是有可能過(guò)濾掉許多有價(jià)值的東西，這些有價(jià)值的東西具有附近的“浪費(fèi)”相移。然而，如果您正在尋找一種特定類型的策略，這樣的功能將非常有用。

采樣電路將它監(jiān)測(cè)到的微小信號(hào)發(fā)送給一個(gè)叫做積分器的設(shè)備

采樣電路將它監(jiān)測(cè)到的微小信號(hào)發(fā)送給一個(gè)叫做積分器的設(shè)備。積分器從采樣電路讀取信號(hào)，將其擴(kuò)展并轉(zhuǎn)換成直流(DC)信號(hào)。這個(gè)DC電壓被連接到一個(gè)音頻電路，在那里它被轉(zhuǎn)換成運(yùn)動(dòng)，并且金屬探測(cè)器使用這個(gè)運(yùn)動(dòng)作為指示器信號(hào)來(lái)發(fā)現(xiàn)策略對(duì)象。基于PI技術(shù)的探險(xiǎn)者不擅長(zhǎng)識(shí)別金屬品種。然而，在許多情況下，甚低頻金屬探測(cè)器會(huì)遇到一些困難，然后PI系統(tǒng)可以使用。每個(gè)線圈都連接到一個(gè)振動(dòng)器上，該振動(dòng)器每秒產(chǎn)生數(shù)千個(gè)電流脈沖。兩個(gè)線圈的脈沖頻率之間有輕微的偏移。當(dāng)脈沖在每個(gè)線圈中傳輸時(shí)，線圈會(huì)發(fā)出無(wú)線電頻率波。

不容易被金屬探測(cè)器檢測(cè)?

對(duì)于工廠企業(yè)來(lái)說(shuō)金屬雜質(zhì)檢測(cè)十分重要，所以金屬探測(cè)器需要有著很高的性，但在使用過(guò)程難以避免出現(xiàn)檢測(cè)遺漏的情況，是那些因素會(huì)導(dǎo)致不容易被金屬探測(cè)器檢測(cè)？金屬因數(shù)：不同的金屬由于自身特性的原因，設(shè)備對(duì)其檢測(cè)的難以程度亦是不同，像鐵、鋼、鉻、碳鋼、碳化鎢等具有導(dǎo)電、磁性的金屬就十分容易被檢測(cè)，而一些純凈、高電阻且無(wú)磁性的金屬，像不銹鋼類中的304和316就難以被檢測(cè)。除了金屬自身的特性外，金屬污染物在被檢測(cè)產(chǎn)品中的方向及位置都會(huì)有所影響！

隨著消費(fèi)者對(duì)食品安全的關(guān)注，涉及到食品中存在異物的投訴也越來(lái)越多，據(jù)統(tǒng)計(jì)，在食品質(zhì)量投訴中，約50% 為異物投訴，其他為口感等。為了檢測(cè)出食品中的異物，國(guó)內(nèi)的大型食品企業(yè)基本都配備了金檢機(jī)。食品用X射線異物檢測(cè)機(jī)是通過(guò)設(shè)備產(chǎn)生X射線并應(yīng)用X射線的穿透能力，檢測(cè)混在產(chǎn)品中的金屬異物以及密度較大的非金屬異物等。此外，食品X射線機(jī)還可以進(jìn)行產(chǎn)品缺失檢測(cè)、破損包裝檢測(cè)、以及重量檢測(cè)等。