大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

膜厚儀光學(xué)監(jiān)1控是高精致鍍膜的的首1選監(jiān)1控方式，這是因為它能夠更準(zhǔn)確地把持膜層厚度(如果利用切當(dāng))。精1確度的改進(jìn)源于很多因素,但最基礎(chǔ)的起因是對光學(xué)厚度的監(jiān)1控。對單波長光學(xué)監(jiān)1控體系，是采用間接測控，結(jié)合先進(jìn)光學(xué)監(jiān)1控軟件，有效提高光學(xué)反應(yīng)對膜厚度變革靈敏度的實際跟措施來減少終1極誤差，供應(yīng)了反饋或傳輸?shù)臎Q定模式跟大范圍的監(jiān)測波長。特別適合于各種膜厚的鍍膜監(jiān)1控包括非規(guī)整膜監(jiān)1控。

對于國內(nèi)眾多真空鍍膜廠家而言，需要在大批量的生產(chǎn)線上就能控制好鍍膜產(chǎn)品的鍍膜層厚度均勻性。那就需要使用膜厚測試儀，在真空鍍膜生產(chǎn)線上實行連續(xù)監(jiān)測，才能保證真空鍍膜產(chǎn)品的質(zhì)量，同時提高真空鍍膜設(shè)備的在線生產(chǎn)效率，減少生產(chǎn)成本。由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄，因此通常都是需要使用光密度法膜厚測試儀來檢測。光密度（OD）定義為材料遮光能力的表征。它用透光鏡測量。光密度沒有量綱單位，是一個對數(shù)值，通常僅對鍍鋁薄膜和珠光膜進(jìn)行光密度測量。

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影響膜厚儀測量的的客觀因素

聲速選擇錯誤。測量工件前，根據(jù)材料種類預(yù)置其聲速或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)塊反測出聲速。當(dāng)用一種材料校正膜厚儀后（常用試塊為鋼）又去測量另一種材料時，將產(chǎn)生錯誤的結(jié)果。要求在測量前一定要正確識別材料，選擇合適聲速。

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