判別光譜儀的好壞，有個非常簡單的方法。就是用國級光譜標(biāo)樣，在不同的光譜儀上連續(xù)打10個點(diǎn)，看它的極差或者RSD。這類數(shù)據(jù)，就叫做短期穩(wěn)定性，簡稱短穩(wěn)。該數(shù)值越小，說明光譜儀短穩(wěn)越好。

因?yàn)楣庾V儀的構(gòu)造和原理，各家都一樣。都是鎢電極對金屬樣品進(jìn)行火花放電，產(chǎn)生復(fù)合光譜，經(jīng)過透鏡進(jìn)入分光室，通過帕邢隴格裝置得到需要的特征光譜線，再由PMT或者CCD、CMOS把光信號轉(zhuǎn)化為電信號，進(jìn)行數(shù)學(xué)處理。終在屏幕上顯示的就是元素含量或者光強(qiáng)。6MP）,鋼瓶壓力接近20Bar時應(yīng)更換亞氣，亞氣瓶更換后請沖洗系統(tǒng)氣路10分鐘。

無論各個品牌宣講所謂的CCS技術(shù)、PDA技術(shù)、ICAL技術(shù)，終都是要體現(xiàn)在數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度的。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

德國斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測的核心問題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測等離子體儀器的數(shù)倍，性能價格比優(yōu)異。

SPECTRO的垂直同步雙觀測（DSOI）方式，使用兩個光學(xué)接口捕獲來自垂直等離子體的發(fā)射光，使得微弱信號的檢測能力大幅提升，同時又允許高濃度、重基體進(jìn)樣。進(jìn)一步降低了記憶效應(yīng)和污染風(fēng)險。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測結(jié)構(gòu)的復(fù)雜缺點(diǎn)和降低了用戶使用成本。國內(nèi)大多數(shù)鑄造及大型鋼鐵企業(yè)通過先進(jìn)儀器迅速提高了分析檢測裝備水平。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

手持式光譜儀

操作時的注意事項(xiàng)1，手持式光譜儀對使用環(huán)境有一定的要求。不要在潮濕的環(huán)境下工作，環(huán)境濕度0-95%之間為好；不能在高溫下操作工作。這樣，避免各類磁場的干擾，分析儀器的時候才能檢測出更高的精度。2，技術(shù)人員在操作分析儀器之前，應(yīng)當(dāng)熟讀儀器產(chǎn)品說明書，或者觀看儀器廠商人員現(xiàn)場演示。另外，手持式分析儀一般應(yīng)用于檢測元素，需要做放樣檢測，所以，技術(shù)人員還需要做好防輻射。3，對手持式光譜儀操作的技術(shù)人員，在使用儀器檢測樣品的時候，先要把儀器前方的圓孔對準(zhǔn)需要檢測樣品的點(diǎn)，儀器要貼在上面，在扣動扳開始檢測的時候，技術(shù)人員的手一定不能抖動，否則會影響到檢測的數(shù)據(jù)結(jié)果。4，分析儀器對于檢測的樣品也有要求。被測的物品表面必須保持整潔，才能避免其他元素的干擾。被測物品的表面有油污，或重金屬污染，會影響檢測結(jié)果。手持合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制