低本底測(cè)量

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低本底是指再被測(cè)放射性樣品中，除本實(shí)驗(yàn)感興趣的核素以外的其他因素（包括樣品的干擾核素）在輻射探測(cè)器中產(chǎn)生的信號(hào)。低本底測(cè)量是指在低本底條件下對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量，相應(yīng)使用的儀器稱為低本底探測(cè)器。

低本底探測(cè)器往往選用放射性雜質(zhì)少的材料或經(jīng)過(guò)純化的材料制作探測(cè)器及整個(gè)裝置。除α探測(cè)器外，低本底探測(cè)器周圍要適當(dāng)增加物質(zhì)屏蔽，以防止宇宙射線和周圍環(huán)境中的射線引起的本底。常用的屏蔽材料為鉛和鋼。電子線路儀器的電子學(xué)線路由放大、甄別、成形、高低壓電源、數(shù)據(jù)采集及計(jì)算機(jī)接口和打印機(jī)等組成。對(duì)探測(cè)器和測(cè)量系統(tǒng)的工作條件也要做適當(dāng)?shù)倪x擇，以減少噪聲和外界電磁場(chǎng)的干擾等因素引進(jìn)的本底計(jì)數(shù)。

低本底測(cè)量?jī)x主要技術(shù)指標(biāo)

主要技術(shù)指標(biāo)

儀器對(duì)于90Sr-90Yβ源（活性區(qū)Φ20mm）的2π探測(cè)效率比≥50％時(shí)， 本底≤0.15cm-2min-1；

儀器對(duì)于241Amα源（活性區(qū)Φ25mm）的2π探測(cè)效率比≥80％時(shí)， 本底≤0.005cm-2min-1；

α／β交叉性能：α進(jìn)入β道的計(jì)數(shù)比＜3％（對(duì)241Am）， β進(jìn)入α道的計(jì)數(shù)比＜0.5％（對(duì)于90Sr-90Y）；

長(zhǎng)期穩(wěn)定性

重復(fù)性：儀器連續(xù)通電8小時(shí)，探測(cè)效率變化＜±10％；

本底穩(wěn)定性：在8小時(shí)的測(cè)量時(shí)間內(nèi)，本底計(jì)數(shù)變化應(yīng)在(Nb±3σ)的范圍內(nèi),其中Nb為本底計(jì)數(shù)的平均值，σ為本底計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)誤差。

儀器靈敏度：α≥5×10-3Bq；β≥1×10-2Bq

耐壓絕緣度＞1500V；

絕緣電阻≥2MΩ；

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低本底儀器介紹

中核控制系統(tǒng)工程有限公司專業(yè)生產(chǎn)、銷售低本底，我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。

該儀器可配任意型號(hào)的計(jì)算機(jī)，測(cè)量程序在WINXP 以上環(huán)境下運(yùn)行，操作過(guò)程有中文提示，自動(dòng)完成測(cè)量程序并打印結(jié)果。

該儀器全部性能指標(biāo)符合國(guó)家規(guī)定的二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，好于目前國(guó)際上的同類產(chǎn)品；是當(dāng)前國(guó)內(nèi)外用閃爍法同時(shí)測(cè)量總α總β弱放射性的一代產(chǎn)品；是國(guó)內(nèi)外較理想的低本底α、β測(cè)量?jī)x。