鋼研納克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 檢測(cè)器

像素?cái)?shù)：3648 46 全行業(yè)較高

像素尺寸：8μm 全行業(yè)較小

精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬(wàn)級(jí)超凈環(huán)境下打造較優(yōu)光學(xué)系統(tǒng)

帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無(wú)像差，分辨率均勻

高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)較高

線分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統(tǒng)，再啟動(dòng)耗時(shí)行業(yè)較低

潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時(shí)）啟動(dòng)只需 30min，熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min

智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氬氣，降低氬氣消耗

60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氬氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天

分片式曝光，痕量元素識(shí)別強(qiáng)度大幅提高，檢出限更低

一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)

獨(dú)立控制不同 CCD 的積分曝光時(shí)間

提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限

隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的 穩(wěn)定性

操作火花直讀光譜儀時(shí)應(yīng)注意要點(diǎn)

試料激發(fā)和計(jì)算機(jī)操作

①、為了安全起見(jiàn)，計(jì)算機(jī)的操作和激發(fā)試樣，必須由一個(gè)人操作到底。

②、試樣放好后，才能使用計(jì)算機(jī)的操作指令，激發(fā)試樣。

③、在激發(fā)崗位操作時(shí)要注意三點(diǎn)。一點(diǎn)要聽(tīng)聲音，試料放置不好，有漏氣時(shí)，激發(fā)聲音則不正常。

第二點(diǎn)檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電(白點(diǎn))是不好的。第三點(diǎn)要檢查激發(fā)點(diǎn)的位置上

是否有微小裂紋，氣孔和砂眼，激發(fā)點(diǎn)有無(wú)重疊等，提供給數(shù)據(jù)處理工作時(shí)做重要的參考。

④、每個(gè)試樣，必須激發(fā)三次以上。

⑤、計(jì)算機(jī)操作時(shí)，應(yīng)記下?tīng)t號(hào)，次數(shù)和鋼種，并要記錄操作者的姓名。

直讀光譜儀在檢測(cè)分析過(guò)程中由于各種因素的影響產(chǎn)生誤差是在所難免的，比如標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品成分不均勻、組織狀況不一致、光譜性能不穩(wěn)定、樣品表面處理不好、氬氣純度不夠等一個(gè)因素出現(xiàn)問(wèn)題，就會(huì)影響到光電光譜分析誤差。了解其產(chǎn)生誤差的原因，采取有效的措施進(jìn)行消除或避免誤差，提高直讀光譜儀檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，是一項(xiàng)十分重要的研究課題。