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發(fā)布時(shí)間:2020-07-27 08:39  
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一六儀器 光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠 一六儀器一liu品質(zhì) 可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢!
測(cè)厚儀精度怎么測(cè):
測(cè)厚儀精度不需要自行測(cè)試,只需打開說明書或者測(cè)厚儀銘牌出就可以找到具體精度。
普通的測(cè)厚儀的精度有0.1mm,0.01mm,還有0.001mm的三種,第三種一般為薄膜測(cè)厚儀,精度要求高一些。測(cè)厚儀還有涂層測(cè)厚儀,這種一般都是0.001mm級(jí)的,國(guó)產(chǎn)的對(duì)于測(cè)量厚度在0.020mm以下的精度很差的,進(jìn)口才行。
而國(guó)產(chǎn)的一般有4-5個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片,不同厚度有不同的標(biāo)準(zhǔn)片,進(jìn)口的則只有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片的。超聲波測(cè)厚儀有0.01mm級(jí)的和0.001mm級(jí)的(一般都是進(jìn)口的)。
江蘇一六儀器 X熒光光譜測(cè)厚儀
應(yīng)用領(lǐng)域:
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZu(ABS)電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)
在線測(cè)厚儀是干什么的
測(cè)厚儀(thickness gauge )是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
在線測(cè)厚儀給我們的產(chǎn)品生產(chǎn)提供了很大的保障性,避免出現(xiàn)產(chǎn)品厚度不合格、廢品等情況的出現(xiàn),為我們的盈利提供了非常大的保障作用。如有需要,可咨詢一六儀器的客服或電話詢問,可以了解下產(chǎn)品。
江蘇一六儀器有限公司 X熒光光譜測(cè)厚儀研發(fā)、生產(chǎn)、銷售廠家
測(cè)厚儀有哪些使用注意事項(xiàng)
不管什么物品,在使用過程中都會(huì)有自己的注意事項(xiàng),而測(cè)厚儀亦不例外,那么我們?cè)谑褂脺y(cè)厚儀的過程中需要注意哪些事項(xiàng)?接下來就來了解下:
1、機(jī)器沒有在使用時(shí)及時(shí)斷電;
2、滾輪達(dá)到使用壽命時(shí)及時(shí)更換以免測(cè)試結(jié)果有誤;
3、這一系列的實(shí)驗(yàn)要專業(yè)人員操作使用,并定期做清潔維修保養(yǎng)工作;
4、機(jī)器工作時(shí)必須有良好的通風(fēng)環(huán)境;
5、控制箱部分,須以干布擦拭,不可用濕布;
6、試驗(yàn)桿臂和試驗(yàn)盤心軸,時(shí)常加注少許潤(rùn)滑油進(jìn)行潤(rùn)滑。
一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x
儀器規(guī)格:
外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (長(zhǎng)x寬x高)
樣品倉(cāng)尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (長(zhǎng)x寬x高)
儀器重量 :55kg
供電電源 :交流220±5V
da功率 :330W
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些
第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。我們利用測(cè)厚儀測(cè)量是,會(huì)事先給測(cè)厚儀輸入一個(gè)補(bǔ)償值,讓測(cè)量值與實(shí)際值相等。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。在這個(gè)過程中,操作者首先對(duì)板材進(jìn)行測(cè)量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等,會(huì)形成人為的誤差。只有在進(jìn)行測(cè)量時(shí),操作者認(rèn)真操作,減少補(bǔ)償值得測(cè)算誤差,使補(bǔ)償值接近真實(shí)值,提高X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度。