對于熱敏電阻效應,也就是電阻值階躍的原因,在于材料組織是由許多小的微晶構(gòu)成的,在晶粒的界面上,即所謂的晶粒邊界(晶界)上形成勢壘,阻礙電子越界進入到相鄰區(qū)域中去,因此而產(chǎn)生高的電阻.這種效應在溫度低時被抵消:在晶界上高的介電常數(shù)和自發(fā)的極化強度在低溫時阻礙了勢壘的形成并使電子可以自由地流動.而這種效應在高溫時,介電常數(shù)和極化強度大幅度地降低,導致勢壘及電阻大幅度地,呈現(xiàn)出強烈的效應.

熱敏電阻通常為一款高阻抗、電阻性器件，因此當您需要將熱敏電阻的阻值轉(zhuǎn)換為電壓值時，該器件可以簡化其中的一個接口問題。然而更具挑戰(zhàn)性的接口問題是，如何利用線性 ADC 以數(shù)字形式捕獲熱敏電阻的非線。熱敏電阻包括兩種基本的類型，分別為正溫度系數(shù)熱敏電阻和負溫度系數(shù)熱敏電阻。負溫度系數(shù)熱敏電阻非常適用于高精度溫度測量。要確定熱敏電阻周圍的溫度，其中，T為開氏溫度;RT為熱敏電阻在溫度T時的阻值;而 A0、A1和A3則是由熱敏電阻生產(chǎn)廠商提供的常數(shù)。

接收端的LC端(參數(shù)設計對ｆ頻率諧接）接收到ｆ讀率信號（能量波）后，經(jīng)全橋整流后變成方向不變的脈動DC電壓，再經(jīng)濾波，穩(wěn)壓和LDo后變成穩(wěn)定的標準DC電壓，對移動終端的電池進行充電，接收端的MCU實時監(jiān)控整個充電狀態(tài)（充電電流，充電電壓和電池溫度等參數(shù)）。防止過壓、過流、過充，防止溫升過高引起、起火等現(xiàn)象發(fā)生。接收端和MCU同時將這一系列監(jiān)測信號參數(shù)數(shù)值同步發(fā)送至發(fā)射端的MCU。在充電電路及電池旁邊埋入一顆溫度檢測的測溫型 NTC熱敏電阻，和MCU共同作用，就可以無線充工作的瞬時溫度變化。