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發(fā)布時(shí)間:2021-01-20 18:40  

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BGA的全稱Ball Grid Array(焊球陣列封裝),它是在封裝體基板的底部制作陣列焊球作為電路的I/O端與印刷線路板(PCB)互接。采用該項(xiàng)技術(shù)封裝的器件是一種表面貼裝器件。


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印刷焊膏

因?yàn)楸砻娼M裝板上已經(jīng)裝有其他元器件,因此必須采用BGA專用小模板,模板厚度與開(kāi)口尺寸要根據(jù)球徑和球距確定,印刷完畢后必須檢查印刷質(zhì)量,如不合格,必須將PCB清洗干凈并涼干后重新印刷。對(duì)于球距為0.4mm以下的CSP,可以不印焊膏,因此不需要加工返修用的模板,直接在PCB的焊盤上涂刷膏狀助焊劑。需要拆元件的PCB放到焊爐里,按下再流焊鍵,等機(jī)器按設(shè)定的程式走完,在溫度z高時(shí)按下進(jìn)出鍵,用真空吸筆取下要拆下的元件,PCB板冷卻即可。A用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住,此時(shí)萬(wàn)用表的指針基本保持不動(dòng),阻值接近無(wú)窮大。


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可以用于對(duì)整個(gè)BGA器件組裝工藝過(guò)程進(jìn)行精j確測(cè)量和質(zhì)量檢測(cè)的檢驗(yàn)設(shè)備非常少,自動(dòng)化的激光檢測(cè)設(shè)備能夠在元器件貼裝前測(cè)試焊劑的涂覆情況,但是它們的速度緩慢,不能用來(lái)檢驗(yàn)BGA器件焊接點(diǎn)的再流焊接質(zhì)量。


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通過(guò)X射線分層法切片,在BGA焊接點(diǎn)處可以獲取如下四個(gè)基本的物理超試參數(shù):①焊接點(diǎn)中心的位置焊接點(diǎn)中心在不同圖像切片中的相對(duì)位置,表明元器件在印刷電路扳焊盤上的定位情況。②焊接點(diǎn)半徑焊接點(diǎn)半徑測(cè)量表明在特定層面上焊接點(diǎn)中焊料的相應(yīng)數(shù)量,在焊盤層的半徑測(cè)量表明在焊劑漏印(PasteScreening)工藝過(guò)程中以及因焊盤污染所產(chǎn)生的任何變化,在球?qū)?ball level)的半徑測(cè)量表明跨越元器件或者印刷電路板的焊接點(diǎn)共面性問(wèn)題。為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo),IC芯片的特征尺寸就要越來(lái)越小,復(fù)雜程度不斷增加,于是,電路的I/O數(shù)就會(huì)越來(lái)越多,封裝的I/O密度就會(huì)不斷增加。