X射線測厚儀結(jié)構(gòu)

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、外部結(jié)構(gòu)原理圖

X熒光做鍍層分析時，根據(jù)射線是至上而下照射樣品，還是至下而上照射樣品的方式，將X熒光分析儀的外部整體結(jié)構(gòu)分為：上照射和下照射兩種結(jié)構(gòu)。

（二）、各種外部結(jié)構(gòu)的特點

1、上照射方式

   用于照射(激發(fā))的X射線是采用由上往下照射方式的設(shè)備稱為上照射儀器。此類設(shè)備的Z軸為可移動方式，用于確定射線照射光斑的焦點，確保測量的準確性。

①、Z軸的移動方式

   根據(jù)Z軸的移動方式，分為自動和手動兩類；

自動型的設(shè)備完全由程序與自動控制裝置實現(xiàn)，其光斑對焦的重現(xiàn)性與準確度都很高，而且使用非常簡便（一般是與圖像采集系統(tǒng)與控制系統(tǒng)相結(jié)合的方式），一般只需要用鼠標(biāo)在圖像上點擊一下即可定位。當(dāng)特征X射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離，產(chǎn)生若干電子-空穴對，其數(shù)量與光子的能量成正比。此類設(shè)備對于測試形狀各異的樣品非常方便，也是目前主流的分析設(shè)備類型。

   手動型設(shè)備，一般需要用人觀察圖像的方式，根據(jù)參考斑點的位置，手動上下調(diào)節(jié)Z軸方向，以達到準確對焦的目的。因此，往往在測試對象幾何結(jié)構(gòu)基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。

②、X、Y軸水平移動方式

水平移動方式一般分為：無X、Y軸移動裝置；手動X、Y軸移動裝置；電動X、Y軸移動裝置；全程控自動X、Y軸移動裝置。

這幾類的設(shè)備都是根據(jù)客戶實際需要而設(shè)計的，例如：使用無X、Y軸移動裝置的也很多，結(jié)構(gòu)簡單，樣品水平移動完全靠手動移動，這種設(shè)備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對象。  

X-RAY測厚儀特點

1，價格高，機種不同，價格在10萬~100萬左右，可測試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。

 2，無損檢測，Windows操作系統(tǒng)，使用簡便。操作快速，能適應(yīng)多類鍍層，大量檢測，但體積較大，計算機除外約100000cm2，50000g左右。

3，測量厚度范圍較廣，

0.002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

4，測量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，測頭的面積較小，對需測的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測量，基材厚度無要求。

6，可編程XYZ測量臺及大移動范圍。

江蘇一六儀器   X射線熒光鍍層測厚儀

儀器簡介

      XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。

    搭配微聚焦射線管和先進的光路設(shè)計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。

    檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·測量面積可達0.002mm2·深凹槽可達90mm。

     外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都沒有難度，讓操作人員輕松自如。

應(yīng)用領(lǐng)域

  線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

  鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

  手表、精密儀表制造行業(yè)

  釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

  衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  電鍍液的金屬陽離子檢測