EMC測(cè)試介紹

EMC測(cè)試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流，這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類靜電放電騷擾時(shí)的性能。

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電磁兼容

電磁兼容是研究在有限的空間、時(shí)間、頻譜資源條件下，各種用電設(shè)備(廣 義還包括生物體)可以共存，并不致引起降級(jí)的一-門學(xué)科。它包括電磁干擾和電磁敏感度兩部分,電磁干擾測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生并向外發(fā)射的電磁波信號(hào)的大小來(lái)反應(yīng)對(duì)周圍電子設(shè)備干擾的強(qiáng)弱。電磁敏感度測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備對(duì)電磁騷擾的抗干擾的能力強(qiáng)弱。電磁干擾主要包括輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射。

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電磁兼容的發(fā)展

電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展，電和磁無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著人們的生活及生產(chǎn)，電磁能的廣泛應(yīng)用，使工業(yè)技術(shù)的發(fā)展日新月異。電磁能在為人類創(chuàng)造巨大財(cái)富的同時(shí)，也帶來(lái)一定的危害，被稱為電磁污染，研究電磁污染是環(huán)境保護(hù)中的重要分支。以往人們把無(wú)線電通訊裝置受到的干擾，稱為電磁干擾，表明裝置受到外部干擾侵入的危害，其實(shí)它本身也對(duì)外部其他裝置造成危害，即成為干擾源。因此必須同時(shí)研究裝置的干擾和被干擾，對(duì)裝置內(nèi)部的組織和裝置之間要注意其相容性。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，日益廣泛采用的微電子技術(shù)和電氣化的逐步實(shí)現(xiàn)，形成了復(fù)雜的電磁環(huán)境。不斷研究和解決電磁環(huán)境中設(shè)備之間以及系統(tǒng)間相互關(guān)系的問題，促進(jìn)了電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展。

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