怎么樣影響氦質(zhì)譜檢漏儀檢測精度

溫度對檢測的影響

對于處于密閉容器的氣體而言，當(dāng)溫度升高時(shí)，其內(nèi)部的壓力也隨之升高。因而溫度的變化不可避免地成為影響壓力變化的重要因素。一般估計(jì)這種影響的范圍大致在溫度每變化1℃引起的壓力變化為0.36%的測量壓力值。因而，隨測試壓力的提高，溫度的影響會變得明顯。

受到檢測容積的影響

在一個(gè)特定的泄漏率值里，如果檢測容積增大的話，那么相應(yīng)的壓力降低的速度就越低，因而測量時(shí)間需要相應(yīng)增加。在一些特定的條件下，如果不想方設(shè)法減少測量容積，那么可能會無法達(dá)到測量需要的度和靈敏度。

氦質(zhì)譜檢漏儀主要特點(diǎn)

用途廣泛：可以替代或者結(jié)合現(xiàn)有方法（如氣泡檢漏或壓力衰減檢漏）使用

先進(jìn)的微處理器控制，使得操作大大簡化

全自動的啟動設(shè)置

3 分鐘內(nèi)即可開始測試

對氦氣具有出色的選擇性，讓您在不受其它任何氣體的影響下讀出氦氣的泄漏

氦氣靈敏度可以按需調(diào)節(jié)，將測試成本及氦氣消耗降至低

可以使用電池工作，也可以連接到插座上

正壓法氦質(zhì)譜檢漏

采用正壓法檢漏時(shí)，需對被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封室充入高于一個(gè)大氣壓力的氦氣，當(dāng)被檢產(chǎn)品表面有漏孔時(shí)，氦氣就會通孔漏孔進(jìn)入被檢外表面的周圍大氣環(huán)境中，再采用吸的方式檢測被檢產(chǎn)品周圍大氣環(huán)境中的氦氣濃度增量，從而實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品泄漏測量。按照收集氦氣方式的不同，又可以將正壓法分為正壓吸法和正壓累積法。其中正壓吸法采用檢漏儀吸對被檢產(chǎn)品外表面進(jìn)行掃描探查，可以實(shí)現(xiàn)漏孔的；正壓累積法采用有一定密閉功能的氦罩將被檢產(chǎn)品全部罩起來，采用檢漏儀吸測量一定時(shí)間段前后的氦罩內(nèi)氦氣濃度變化量，實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的測量。正壓法的優(yōu)點(diǎn)是不需要輔助的真空系統(tǒng)，可以，實(shí)現(xiàn)任何工作壓力下的檢測。正壓法的缺點(diǎn)是檢測靈敏度較低，檢測結(jié)果不確定度大，受測量環(huán)境條件影響大。正壓法主要應(yīng)用于大容積高壓密閉容器產(chǎn)品的檢漏，如高壓氦氣瓶、艙門檢漏儀等。