磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。渦流測厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

核心技術(shù)分析  

多層膜、膜成分、基材成分檢測。

下照式機頭光管及探測器，攝像頭的光路結(jié)構(gòu)設(shè)計。

XYZ三維移動平臺的運動；

軟件實現(xiàn)圖像變形的修正及控制平臺的準(zhǔn)確選點運動。

單點或多點矩陣檢測

目前此行業(yè)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)樣品極為稀缺，華唯獨有的FP算法無需標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即可對樣品進行分析，幫助客戶徹底擺脫對標(biāo)準(zhǔn)樣品的高度依賴。

XRF在礦石領(lǐng)域的應(yīng)用

隨著我國社會經(jīng)濟的發(fā)展，我國礦業(yè)目前正處于轉(zhuǎn)型期，朝著生態(tài)環(huán)保、高質(zhì)量發(fā)展、資源節(jié)約、技術(shù)創(chuàng)新是礦業(yè)的發(fā)展方向，這對礦產(chǎn)采選、冶煉、深加工等環(huán)節(jié)中對礦產(chǎn)品質(zhì)檢測有了更嚴格的要求。

X射線熒光分析技術(shù)是一種快速、無損、度、可多元素同時測定的物質(zhì)測量方法。適合于礦產(chǎn)主量、次量及微量成分分析具有簡便、快速的優(yōu)點，這些特點使得該分析技術(shù)在許多領(lǐng)域都更加便攜且更具優(yōu)勢。

TrueX 礦石分析儀能夠在很少或沒有樣本準(zhǔn)備的情況下，在活動的各個階段，包含從基層勘探開發(fā)，到礦石品位控制，甚至環(huán)境調(diào)查等情況下，提供快速、準(zhǔn)確的元素分析結(jié)果，與傳統(tǒng)的實驗室方法相比，樣品吞吐量高，樣品密度增加，省時省心又省力。