顯微鏡比對(duì)模式

顯微鏡比對(duì)模式： 1、 可將實(shí)時(shí)影像中的實(shí)際工件進(jìn)行拍照（包含影像上所標(biāo)注的尺寸及線條圖形），并可以JPEG格式儲(chǔ)存于計(jì)算機(jī)中，形成產(chǎn)品圖庫(kù)。 2、 可將存于圖庫(kù)中的JPEG圖檔打開(kāi)，并與同一畫面中實(shí)時(shí)的影像相互比對(duì)。 注： 1、影像式金相測(cè)量顯微鏡可將以往用肉眼在傳統(tǒng)顯微鏡下所觀察之影像將其數(shù)字化并轉(zhuǎn)換至計(jì)算機(jī)中作各式的繪圖及測(cè)量，再可將所得到的數(shù)據(jù)及圖形數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于計(jì)算機(jī)中，以便數(shù)據(jù)存盤及電子郵件發(fā)送。 2、適用于微型芯片電路檢測(cè)、PCB板或其它金屬鍍層厚度檢測(cè)，金屬表面結(jié)構(gòu)分析及其它高倍顯微檢測(cè)。用途：可供觀察和檢測(cè)各種PCB線路板、LCD液晶顯示板、金屬金相組織，研潤(rùn)企業(yè)生產(chǎn)其舒適精致的鏡體機(jī)構(gòu)、輕松快捷的操作方式，是工礦企業(yè)工業(yè)光學(xué)檢測(cè)儀器及學(xué)校金相教學(xué)用儀器的；流線型、高穩(wěn)定性的鏡體設(shè)計(jì)，使用方便、功能齊全，適合在單偏光、正偏光及錐光下觀察礦物的晶體形狀、著色、干涉色等，并準(zhǔn)確地鑒定各種礦物或其它晶體試樣薄片的光學(xué)性質(zhì)。.

金相顯微鏡的構(gòu)造及分析

金相顯微鏡的構(gòu)造 光學(xué)金相顯微鏡的構(gòu)造一般包括放大系統(tǒng)、光路系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)三部分，其中放大系統(tǒng)是顯微鏡的關(guān)鍵部分。 目前主要是電腦型金相顯微鏡，是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)地結(jié)合在一起而開(kāi)發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析，評(píng)級(jí)等以及對(duì)圖片進(jìn)行輸出、打印。

金相顯微鏡是用可見(jiàn)光作為照明源的一種

金相顯微鏡是用可見(jiàn)光作為照明源的一種顯微鏡可分為正立式和倒置式兩種。兩者的區(qū)別為： 正立式顯微鏡：光路短，光路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，光損少，制樣要求高，樣品高度有要求，方便多視場(chǎng)連續(xù)觀察，鏡頭不易落灰易維護(hù)。 倒置式顯微鏡：光路長(zhǎng)，光損較大，光路設(shè)計(jì)較復(fù)雜，制樣要求較低，對(duì)樣品高低無(wú)要求，檢測(cè)方便快速，不適合多視場(chǎng)分析，同等配置下倒置顯微鏡的價(jià)格要高于正立式顯微鏡。