γ計數(shù)器的原理

γ計數(shù)器，是一種用于探測電離輻射的粒子探測器，通常用于探測α粒子和β粒子，也有些型號蓋革計數(shù)器可以探測γ射線及X射線。

γ計數(shù)器是根據射線對氣體的電離性質設計成的。其探測器（稱“蓋革管”）的通常結構是在一根兩端用絕緣物質密閉的金屬管內充入稀薄氣體（通常是摻加了鹵素的稀有氣體，如氦等），在沿管的軸線上安裝有一根金屬絲電極，并在金屬管壁和金屬絲電極之間加上略低于管內氣體擊穿電壓的電壓。

γ計數(shù)器原理介紹

在通常狀態(tài)下，管內氣體不放電；而當有高速粒子射入管內時，粒子的能量使管內氣體電離導電，在絲極與管壁之間產生迅速的氣體放電現(xiàn)象，從而輸出一個脈沖電流信號。通過適當?shù)剡x擇加在絲極與管壁之間的電壓，就可以對被探測粒子低的能量，從而對其種類加以甄選。蓋革計數(shù)器也可以用于探測γ射線。

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γ計數(shù)器的性能

CAPRAC-t型擦拭測試計數(shù)儀/井型NaI咖瑪計數(shù)儀性能：

1、可打印測試報告和光子能量直方圖；

2、計算通道含有511Kev探測功能；

3、通過γ能譜鑒別同位素；

4、為不同區(qū)域（熱實驗室、病房、等）接收和儲存單個的觸發(fā)水平；

5、增加的觸發(fā)水平計數(shù)用紅色墨打印。

6、6秒內進行擦拭測試。

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γ計數(shù)器的優(yōu)勢

與其他井型計數(shù)器相比，CAPRAC-t 擁有更快的速度、更高的精度和更齊全的內置功能。該計數(shù)器可以在6秒鐘內完成—次擦拭測試(1 nci)，而檢測極低活度的精度甚至與NaI 并型探測器相當。

CAPRAC-t的設計和制造一直都極其可靠，且可以選擇Curie或 Becquerel作為單位。該設備擁有自動背景差分和自我診斷程序，可使用*的信噪比完成系統(tǒng)測試。這包括鉛制外屏蔽層（1.3厘米厚）與可選的輔助屏蔽層。