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發(fā)布時(shí)間:2020-12-20 06:26  
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紅外測溫儀是否受外界環(huán)境影響
很多人經(jīng)常在使用紅外測溫儀的時(shí)候存在這樣的疑問,那就是外界的溫度是否會(huì)影響紅外測溫儀的測量效果呢?西安紅外檢測儀器有限公司將對大家的疑問做如下解答。
紅外測溫是根據(jù)人體反射的不可見光(紅外光)不測量溫度的。也就是說,只要額頭前沒有東西擋著你,那測出來的數(shù)據(jù)就是準(zhǔn)確的。
物體溫度的高低影響紅外光的反射率。紅外測溫儀產(chǎn)品是用于測量物體表面溫度的,所以不會(huì)受到環(huán)境的影響。
但你測額溫時(shí)要注意不要讓頭發(fā)擋著你的額頭.否則測出來的就是頭發(fā)的溫度了,而且測之前要將額頭的汗水抺走。
如何使用紅外線測溫儀診斷設(shè)備故障?
由紅外線測溫儀進(jìn)行設(shè)備故障紅外診斷核心的問題,要求準(zhǔn)確地獲得被測設(shè)備的溫度分布或故障相關(guān)點(diǎn)溫度值與溫升值。在工業(yè)領(lǐng)域內(nèi)對產(chǎn)品的質(zhì)量、全工藝流程控制等影響很大,這些基本物理量中,對溫度的測量和標(biāo)定相比之下難度要大的多。這個(gè)溫度信息不僅是判斷設(shè)備有無故障的依據(jù),也是判斷故障屬性、位置、嚴(yán)重程度的客觀依據(jù)。因此,對被測設(shè)備故障相關(guān)部位溫度的計(jì)算與合理修正,是提高檢測設(shè)備表面溫度準(zhǔn)確性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。但是在現(xiàn)場進(jìn)行設(shè)備紅外檢測時(shí),由于檢測條件和環(huán)境的影響變化,可能導(dǎo)致同一設(shè)備因檢測條件不同,而得到不同的結(jié)果。因此,為了提高紅外檢測的準(zhǔn)確度,必須對現(xiàn)場檢測過程中或?qū)z測結(jié)果的分析處理中,采取相應(yīng)的對策與措施或選擇良好的檢測條件,或?qū)z測現(xiàn)場結(jié)果進(jìn)行合理的修正。
電氣設(shè)備故障一般是電流效應(yīng)引起的發(fā)熱故障(導(dǎo)電回路故障--發(fā)熱功率與負(fù)荷電流值的平方成正比),和電壓效應(yīng)引起的發(fā)熱故障(絕緣介質(zhì)故障--發(fā)熱功率與運(yùn)行電壓的平方成正比)。還要確定操作工是否也需要通過窗口進(jìn)行觀察,因此要選擇合適的安裝位置和窗口材料,避免相互影響。因此,設(shè)備的工作電壓和負(fù)荷電流的大小,將直接影響到紅外檢測與故障診斷的效果。泄漏電流的增大,能造成高壓設(shè)備部分電壓不均勻。如果沒有加載運(yùn)或者負(fù)荷很低,則會(huì)使設(shè)備故障發(fā)熱不明顯,即使存在較嚴(yán)重的故障,也不可能因特征性熱異常的形式暴露出來。只有當(dāng)設(shè)備在額定電壓下運(yùn)行,而且負(fù)荷越大時(shí),發(fā)熱及溫升才越嚴(yán)重,故障點(diǎn)的特征性熱異常也暴露得越明顯。
紅外線測溫儀的應(yīng)用及分類介紹
熱敏紅外線測溫儀測溫:作為測量溫度的熱敏紅外線測溫儀一般結(jié)構(gòu)較簡單,價(jià)格較低廉。當(dāng)用紅外輻射測溫儀測量目標(biāo)的溫度時(shí)首先要測量出目標(biāo)在其波段范圍內(nèi)的紅外輻射量,然后由測溫儀計(jì)算出被測目標(biāo)的溫度。沒有外面保護(hù)層的熱敏電阻只能應(yīng)用在干燥的地方;密封的熱敏電阻不怕濕氣的侵蝕、可以使用在較惡劣的環(huán)境下。由于熱敏紅外線測溫儀的阻值較大,故其連接導(dǎo)線的電阻和接觸電阻可以忽略,因此熱敏紅外線測溫儀可以在長達(dá)幾千米的遠(yuǎn)距離測量溫度中應(yīng)用,測量電路多采用橋路。利用其原理還可以用作其他測溫、控溫電路等。
熱敏紅外線測溫儀用于溫度的補(bǔ)償:熱敏紅外線測溫儀可在一定的溫度范圍內(nèi)對某些元器件濕度進(jìn)行補(bǔ)償。光學(xué)系統(tǒng)匯集其視場內(nèi)的目標(biāo)紅外輻射能量,視場的大小由測溫儀的光學(xué)零件以及位置決定。例如,動(dòng)圈式儀表表頭中的動(dòng)圈由銅線繞制而成。溫度升高,電阻增大,引起溫度的誤差。因而可以在動(dòng)圈的回路中將負(fù)溫度系數(shù)的熱敏電阻與錳銅絲電阻并聯(lián)后再與被補(bǔ)償元器件串聯(lián),從而抵消內(nèi)于溫度變化所產(chǎn)生的誤差。在晶體管電路、對數(shù)放大器中,也常用熱敏電阻組成補(bǔ)償電路.補(bǔ)償由于溫度引起的漂移誤差。