蔡司三坐標(biāo)測量機

觸發(fā)測頭

測點數(shù)目給了我們很清楚的指示，如果被測零件的測量要求中有關(guān)于圓度的測量需求，那需要使用掃描測頭。試想一下，如果1個圓的64個測點采用單點觸發(fā)式測頭來測量的話，其測量效率顯然是難以讓人接受的。從測量效率和合理性出發(fā)，事實上不僅是圓度，其它類型的形狀公差測量都應(yīng)采用連續(xù)掃描測頭，否則難以準(zhǔn)確地評價被測元素的形狀公差。

三軸聯(lián)動與五軸聯(lián)動

當(dāng)下個零件擺放到工作臺上，但其姿態(tài)方位與前一個零件不一致時，之前的測頭角度可能會不再適用。因此，在做批量測量時，我們對于零件的位置、姿態(tài)方位都有一定程度的要求。而對于五軸系統(tǒng)，這方面的要求會寬松得多，測頭的無級分度特性使得測頭能夠根據(jù)零件坐標(biāo)系的找正作出相應(yīng)調(diào)整，避免了出現(xiàn)測頭角度不適用的情形。

三坐標(biāo)測頭

光學(xué)測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢，但并無法完全替代接觸式測頭，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測頭。測球的各個部位都可以去接觸被測物體來采點，但光的傳播是沿直線的，我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要L型測針的場合，接觸式測頭比光學(xué)測頭更方便。

沒有好的測頭，究竟怎么選擇還是取決于測量需求。在繁多的測頭種類面前，應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向，也不一定要追求全能型的測頭，找到真正合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。