儀器測帽以一定的力作用于量塊表面

比較測量時，儀器測帽以一定的力作用于量塊表面，此時量塊表面會產(chǎn)生一個彈性壓陷，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)量塊和被測量塊材料相同時，其彈性模數(shù)和表面硬度相同，在標(biāo)準(zhǔn)量塊和被測量塊表面產(chǎn)生的壓陷深度相同時，這一影響可以忽略不計。以鋼量塊作為標(biāo)準(zhǔn)測量陶瓷量塊

時，由于兩者的材料不同，彈性模數(shù)相差非常大，其壓陷量也不相同，從而產(chǎn)生測量誤差；另外，陶瓷量塊的膨脹系數(shù)為9×10 ℃～，鋼量塊的膨脹系數(shù)為l1．5×1O℃～，當(dāng)實驗室溫度偏離20℃，采用鋼量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，如果不進(jìn)行溫度修正，也會造成測量誤差。所以，采用比較法測量陶瓷量塊長度時，應(yīng)采用陶瓷量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，同時配以陶瓷材料制成的帶筋工作臺。

陽光直射、高溫、低溫和儲存在高濕度環(huán)境里

儲存注意事項 避免陽光直射、高溫、低溫和儲存在高濕度環(huán)境里。如果數(shù)顯卡尺超過三個月不用，入庫前卸下電池。在儲存期間，不要讓卡尺的完全封閉。游標(biāo)卡尺是工業(yè)上常用的測量長度的儀器，可直接用來測量精度較高的工件，如軸承的長度、內(nèi)徑、外徑以及深度等。使用卡尺測量時，卡尺的測量面應(yīng)盡量與被測物體的測量面平行或垂直；使用深度測量時，如被測物體有R角時，需避開R角但緊靠R角，深度尺與被測高度盡量保持垂直；卡尺測量圓柱時，需轉(zhuǎn)動且分段測量取值；因卡尺使用的頻率高，保養(yǎng)工作需要做到，每天使用完后需擦拭干凈后放入盒內(nèi)，使用前需用量塊檢驗卡尺的精度。

     測量儀器是用于檢出或者測量一個量或為測量目的的供給一個量的器具，測量儀器是為了取得目標(biāo)物某些屬性值而進(jìn)行衡量所需要的第三方標(biāo)準(zhǔn)，故測量儀器一般都具有刻度，容積等單位。一般分為接觸試和光學(xué)試測量兩種，概念其基本內(nèi)容包括精度、誤差、測量標(biāo)準(zhǔn)器材、長度測量、角度測量、形狀測量、傳統(tǒng)光學(xué)儀器、在精密測量上的應(yīng)用等。

數(shù)顯卡尺的處理方法有哪些?

首先要正確使用數(shù)顯卡尺，一般情況下故障率較低。出現(xiàn)問題多半由使用環(huán)境不當(dāng)或電池電壓過低所致，偶然也會出現(xiàn)以下故障：

1．“死機(jī)”——由于偶然受外界強(qiáng)干擾出現(xiàn)顯示值鎖定不動。

處理方法：取出電池，過30秒后再重新裝入（有時需重復(fù)一次或多次）可恢復(fù)正常。

2．顯示閃爍——電池電壓過低，應(yīng)更換新電池（防止電池短路）。

3．?dāng)?shù)字混亂——主要原因有以下四種：

A、保護(hù)膜表面受潮或沾切削液（或其它導(dǎo)電微粒）。處理方法：用干燥清潔的布少許沾濕無水乙醇或航空，擦凈尺身和保護(hù)膜表面。再輕輕擰一小滴無水乙醇或航空（注意不要滴太多，否則液體會進(jìn)入電子組件造成其他問題！）在卡尺的保護(hù)上，來回拉動卡尺（目的是把與保護(hù)膜緊密接觸的顯示組件線路板所粘的屏蔽物體也去掉）

B、保護(hù)膜下面的覆銅板定柵條表面因腐蝕氧化變黑影響信號傳遞。處理方法：揭開保護(hù)膜，用橡皮或金相砂紙擦亮柵條銅皮表面，刷干凈即可。由于舊的保護(hù)膜經(jīng)過撕扯，貼回去會造成不平整，換新的保護(hù)膜，因為這也是影響精度的因素之一；

C、電子組件損壞——處理方法：更換組件。

D、電池電量不足——處理方法：更換電池。