X射線熒光鍍層測(cè)厚儀  

一六儀器快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析

微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.

測(cè)厚儀分類：

1.超聲波測(cè)厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射，測(cè)量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。只有在進(jìn)行測(cè)量時(shí),操作者認(rèn)真操作,減少補(bǔ)償值得測(cè)算誤差,使補(bǔ)償值接近真實(shí)值,提高X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度。在電力工業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測(cè)厚儀。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測(cè)厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對(duì)于鋼材，大測(cè)定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

2.磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

X射線熒光光譜法原理研究

一六儀器  光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家  一六儀器一liu品質(zhì),可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢!

X射線

   德國(guó)物理學(xué)家倫琴在研究稀薄氣體放電實(shí)驗(yàn)時(shí)，采用了一種特殊裝置，此裝置發(fā)射電子，在陰極相對(duì)的位置裝置金屬陽(yáng)極，在陰陽(yáng)兩極之間加以高電壓，當(dāng)容器充有稀薄氣體時(shí)，氣體中可觀察到放電現(xiàn)象，試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)的這種未知射線，倫琴命名為X射線。在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。對(duì)X射線定義為：電子在原子核附近加速或核外內(nèi)層電子能級(jí)間發(fā)生躍遷時(shí)所發(fā)射的電磁輻射。

江蘇一六儀器有限公司是一家光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的企業(yè)。根據(jù)測(cè)定原理的不同，常用測(cè)厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。歡迎咨詢聯(lián)系！

如何選擇測(cè)厚儀的測(cè)點(diǎn)

    如何選擇測(cè)厚儀的測(cè)點(diǎn)位置？我們想要使用測(cè)厚儀測(cè)量物品厚度，前提是有測(cè)點(diǎn)位置，相當(dāng)于我們的需要選擇一個(gè)固定點(diǎn)為零值一樣，如此才能夠測(cè)量出具體厚度。

 1、鋼結(jié)構(gòu)柱、梁,在構(gòu)件長(zhǎng)度方向內(nèi)每隔1m取一截面,測(cè)試構(gòu)件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂刷厚度.

   2、桁架結(jié)構(gòu)、梁,在上、下弦和腹桿的長(zhǎng)度方向內(nèi)每隔1m取一個(gè)截面,測(cè)定桿件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂層厚度.頂板和鋼樓梯,在每平方范圍內(nèi)選取5個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)定,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該構(gòu)件的涂層厚度.

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級(jí)X射線照射待測(cè)樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級(jí)X射線，入射的X射線具有相對(duì)較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。激光測(cè)厚儀型號(hào)選擇方法：1、用戶需要告訴激光測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家測(cè)量什么產(chǎn)品的厚度及其抖動(dòng)、運(yùn)動(dòng)速度等。X射線熒光光譜的波長(zhǎng)在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長(zhǎng)的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí)，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。高精度測(cè)厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。