隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高，自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用?；趯?duì)市場(chǎng)和客戶(hù)的深入了解，成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)（AOI），產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車(chē)電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶(hù)提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺(jué)檢查系統(tǒng)。首先，為了探究每一種布局的檢查效果，建議在大量PCB布局上采用這種基準(zhǔn)。

核心技術(shù)及優(yōu)勢(shì)● 快速編程簡(jiǎn)單、快速

通過(guò)導(dǎo)入Gb文件與CAD文件后自動(dòng)創(chuàng)建焊盤(pán)信息，只需設(shè)置檢測(cè)參數(shù)即可完成編程。

● 自動(dòng)零基準(zhǔn)技術(shù)

能自動(dòng)生成零基準(zhǔn)，程序處理時(shí)間短。 ● 顏色過(guò)濾技術(shù)

可有效解決 PCB 板變 形后發(fā)生零基準(zhǔn)偏移導(dǎo)致的“拉尖”現(xiàn)象。

● 截面分析功能

可方便對(duì)錫膏的成型形狀進(jìn)行有效分析。

● 拔高截面算法

可對(duì)錫膏“拉尖”進(jìn)行有 效檢測(cè)。

● 三級(jí)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置

可對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)趨勢(shì)進(jìn)行有效監(jiān)控。

● SPC

各種數(shù)據(jù)圖表，可滿(mǎn)足現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量蹤及品質(zhì)分析。

針對(duì)AOI檢查的PCB整體布局器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm（0.12”）的工 藝邊。片式器件必須優(yōu)先于圓柱形器件。布局上建議考慮 傳感器技術(shù)，因?yàn)橛袝r(shí)檢查只能通過(guò)垂直（正交）角度，而其他時(shí)候又需要一個(gè)輔助的角度來(lái)進(jìn)行。

產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車(chē)電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶(hù)提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺(jué)檢查系統(tǒng)。

AOI為客戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù)，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶(hù)、精益求精”的核心價(jià)值觀，以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺(jué)檢查方案供應(yīng)商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺(jué)與智能”的內(nèi)涵?；趯?duì)市場(chǎng)和客戶(hù)的深入了解，成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)（AOI），為客戶(hù)提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺(jué)檢查系統(tǒng)。

波長(zhǎng)光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測(cè)設(shè)備中的紅綠藍(lán)LED光源。核心技術(shù)及優(yōu)勢(shì)●快速編程簡(jiǎn)單、快速通過(guò)導(dǎo)入Gb文件與CAD文件后自動(dòng)創(chuàng)建焊盤(pán)信息，只需設(shè)置檢測(cè)參數(shù)即可完成編程。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源，一些特殊材料在可見(jiàn)光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源，比如說(shuō)利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學(xué)干涉原理的白光干涉（white light interferometry）在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用，例如通過(guò)相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差，可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng)，測(cè)量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測(cè)的新需求。