老化過程的類型

標準的老化測試系統(tǒng)包含一系列插座，這些插座橋接了老化板和被測試設備之間的臨時電氣連接。典型的老化板可能包括多達五十個插槽，并且老化系統(tǒng)可能包含數(shù)十個此類板。有效的老化系統(tǒng)性能取決于對老化板，測試設備和老化爐中溫度分布的透徹了解。常見的老化測試系統(tǒng)包括：

·靜態(tài)老化：在這種類型的系統(tǒng)下，將測試設備安裝到老化板上的插座，然后將其放置在老化烤箱中，在該烤箱中以十二到二十四的時間間隔施加電源和高溫小時。

冷卻后，將電路板取出，并對設備進行一系列功能測試。外部偏置或負載不會產(chǎn)生應力，但是由于缺少電輸入，因此靜態(tài)老化方法對評估復雜器件的效果較差。

老化房可用于評估確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化和產(chǎn)品表面高溫老化的環(huán)境條件下的儲存適應性和使用的儲存適應性。通常，測試樣本分為需要通電的測試樣本和不需要通電的測試樣本。老化室一般適用于中型和大型樣品。用于高水分樣品的高溫老化或干燥。它可分為設備要求的低均勻性或準確性、5-10度/分鐘的高溫上升速率、設備要求的高均勻性或準確性以及1-3度/分鐘的高溫上升速率。老房子有高低之分。如果有購買配額，可以使用配置稍低的普通智能數(shù)字顯示儀表。如果預留購買量大，可以使用進口溫控器或觸摸屏控制器。具有溫度測試范圍寬，操作方便，溫控靈敏度高，溫度均勻性好。

高溫老化房一般用于產(chǎn)品出廠前的老練篩選，挑除前期失效工件。多用于電工電子產(chǎn)品。

一、對應的產(chǎn)品標準

高溫試驗箱現(xiàn)行執(zhí)行標準GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術條件》

高溫老化房沒有的產(chǎn)品標準，一般參照GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術條件》執(zhí)行

二、指標的異同

高溫試驗箱

溫度波動度：≤1℃

溫度梯度：≤2℃

溫度偏差：±2℃

高溫老化房

由于高溫老化房沒有產(chǎn)品標準，且使用溫度不高，一般參照高溫試驗箱指標：

溫度均勻度：≤2℃(按GB/T11158-98的指標)

換氣量：可調(diào)

結構

由于高溫試驗箱溫場要求較高，一般采用層流設計。