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發(fā)布時(shí)間:2021-01-09 09:43  
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江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè),歡迎有各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題來電咨詢!。
測(cè)厚儀
測(cè)厚儀(thickness gauge )是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
介紹:測(cè)厚儀可以用來在線測(cè) 量軋制后的板帶材厚度,并以電訊號(hào)的形式輸出。假如激起光源為x射線,則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng),以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制(AGC)。 目前常見的測(cè)厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種,其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。
一六儀器 光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠 一六儀器一liu品質(zhì) 可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢!
測(cè)厚儀精度怎么測(cè):
測(cè)厚儀精度不需要自行測(cè)試,只需打開說明書或者測(cè)厚儀銘牌出就可以找到具體精度。
普通的測(cè)厚儀的精度有0.1mm,0.01mm,還有0.001mm的三種,第三種一般為薄膜測(cè)厚儀,精度要求高一些。測(cè)厚儀還有涂層測(cè)厚儀,這種一般都是0.001mm級(jí)的,國產(chǎn)的對(duì)于測(cè)量厚度在0.020mm以下的精度很差的,進(jìn)口才行。
而國產(chǎn)的一般有4-5個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片,不同厚度有不同的標(biāo)準(zhǔn)片,進(jìn)口的則只有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片的。超聲波測(cè)厚儀有0.01mm級(jí)的和0.001mm級(jí)的(一般都是進(jìn)口的)。
一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x
性能優(yōu)勢(shì):
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。
率的jie shou qi :即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。
EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎
測(cè)厚儀的原理:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量,當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。
膜厚儀:屬于測(cè)厚儀的一種,膜厚儀測(cè)量覆膜薄膜的厚度,手持式的有涂層測(cè)厚儀,為磁阻法和電渦流原理,臺(tái)式的不同原理也有好多種,電感原理等。