芯片檢測(cè)顯微鏡的原理

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芯片檢測(cè)顯微鏡是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、先進(jìn)的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、數(shù)碼成像技術(shù)結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在數(shù)碼相機(jī)上很方便地適時(shí)觀察金相圖像，并以數(shù)碼照片記錄下來,從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析,評(píng)級(jí)等,還可以數(shù)碼沖洗或打印出高像素金相照片。

芯片檢測(cè)顯微鏡的適用范圍

芯片檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)不透明物體的進(jìn)行顯微觀察。配置大移動(dòng)范圍的機(jī)械式載物臺(tái)、落射照明器、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點(diǎn)，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠等部門使用。

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