測試， High Current Test耐電流測試

HCT耐電流測試是耐電流測試的一種方法。耐電流參數(shù)測試儀●升溫速度設(shè)定測試中，可以設(shè)定樣品的升溫速度，以模擬不同的溫度變化對樣品的熱沖擊。測試中，孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時(shí)間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1，然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時(shí)間(t2-t1),然后停止施加電流，使孔鏈冷卻時(shí)間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。

在測試過程中，需要實(shí)時(shí)檢測孔鏈的電阻，電流。

耐電流參數(shù)測試儀主要特點(diǎn)如下

●測試過程數(shù)據(jù)表格顯示

樣品測試完成后，樣品的測試條件以及測試結(jié)果顯示在測試表格中。

測試結(jié)果是否失效統(tǒng)計(jì)顯示。

表格數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為MS Excel格式文件。

保存的數(shù)據(jù)也可以重新調(diào)入表格顯示。

●測試樣品開路檢測和探針接觸不良檢測

測試中，如果發(fā)生樣品失效或者開路，儀器可以自動(dòng)檢測并判斷，并對用戶進(jìn)行提示。

測試中，如果探針接觸不良，儀器可以自動(dòng)檢測并判斷，并對用戶進(jìn)行提示。

●超溫保護(hù)

儀器可以設(shè)定測試時(shí)測試樣品超過一定溫度時(shí)斷開測試電流，以對測試樣品進(jìn)行保護(hù)，十分方便用戶對缺陷測試樣品進(jìn)行失效分析，從而找到失效的根本原因。

過去雷射盲孔的檢測，是運(yùn)用肉眼或3D測量儀器進(jìn)行逐一檢測，這種方法非常消耗人力，辛苦且只能檢查到一小部分的孔，威太的雷射盲孔檢測儀可全l面檢測HDI及ABF板上的每一個(gè)孔，且健側(cè) 時(shí)間從數(shù)小時(shí)大幅度縮減至數(shù)十秒，不但可以測出不良盲孔，更可以精準(zhǔn)且詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)報(bào)告，做為生產(chǎn)的監(jiān)控與改善。耐電流參數(shù)測試儀主要特點(diǎn)如下內(nèi)置室溫檢測儀器內(nèi)置室溫檢測，實(shí)時(shí)檢測室內(nèi)溫度，保證測試樣品溫度的準(zhǔn)確性。

針對雷射鉆孔的需求，提供具成本與效益的檢查機(jī)量測解決方案。