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發(fā)布時(shí)間:2020-11-13 08:25  
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我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。電子元件:電子類的元件元件:小型的機(jī)器、儀器的組成部分,其本身常由若干零件構(gòu)成,可以在同類產(chǎn)品中通用。
SMT技術(shù)進(jìn)入90年代以來,走向了成熟的階段,但隨著電子產(chǎn)品向便據(jù)式/小型化、網(wǎng)絡(luò)化和多媒體化方向的迅速發(fā)展,對(duì)電子組裝技術(shù)提出了更高的要求,新的高密度組裝技術(shù)不斷涌現(xiàn),其中BGA(Ball Grid Array球柵陣列封裝)就是一項(xiàng)已經(jīng)進(jìn)入實(shí)用化階段的高密度組裝技術(shù)。由于焊料或者前置焊球所引發(fā)的“陰影”效果限制了X射線設(shè)備的檢測(cè)工作,使之僅能粗略地反映BGA的工藝過程缺陷,例如:橋接現(xiàn)象。本文試圖就BGA器件的組裝特點(diǎn)以及焊點(diǎn)的質(zhì)量控制作一介紹。
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BGA技術(shù)的研究始于60年代,早被美國IBM公司采用,但一直到90年代初,BGA 才真正進(jìn)入實(shí)用化的階段。
在80年代,人們對(duì)電子電路小型化和I/O引線數(shù)提出了更高的要求。電子元器件在質(zhì)量方面國際上面有中國的CQC認(rèn)證,美國的UL和CUL認(rèn)證,德國的VDE和TUV以及歐盟的CE等國內(nèi)外認(rèn)證,來保證元器件的合格。雖然SMT使電路組裝具有輕、薄、短、小的特點(diǎn),對(duì)于具有高引線數(shù)的精細(xì)間距器件的引線間距以及引線共平面度也提出了更為嚴(yán)格的要求,但是由于受到加工精度、可生產(chǎn)性、成本和組裝工藝的制約,一般認(rèn)為QFP(Quad Flat Pack 方型扁平封裝)器件間距的極限為0.3mm,這就大大限制了高密度組裝的發(fā) 展。另外,由于精細(xì)間距QFP器件對(duì)組裝工藝要求嚴(yán)格,使其應(yīng)用受到了限制,為此美國一些公 司就把注意力放在開發(fā)和應(yīng)用比QFP器件更優(yōu)越的BGA器件上。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。由于污染所引起的斷路現(xiàn)象,會(huì)產(chǎn)生細(xì)小的焊盤半徑和較大的元器件半徑尺寸,所以可以利用元器件半徑和焊盤半徑的差異來區(qū)分?jǐn)嗦番F(xiàn)象是否是由于污染引起的。
據(jù)一家國際1流的計(jì)算機(jī)制造商反映,從印刷電路板裝配線上剔除的所有BGA器件中的50%以上,采用電子測(cè)試方式對(duì)其進(jìn)行測(cè)試是失敗的,它們實(shí)際上并不存在缺陷,因而也就不應(yīng)該被剔除掉。在焊盤設(shè)計(jì)合理的情況下,再流焊后BGA底部與PCB之間距離比焊前塌陷1/5-1/3屬于正常。電子測(cè)試不能夠確定是否是BGA器件引起了測(cè)試的失效,但是它們卻因此而被剔除掉。對(duì)其相關(guān)界面的仔細(xì)研究能夠減少測(cè)試點(diǎn)和提高測(cè)試的準(zhǔn)確性,但是這要求增加管芯級(jí)電路以提供所需的測(cè)試電路。