適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測量系統(tǒng)能夠快速、有效地對幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物到有機(jī)材料——進(jìn)行三維表面分析。共焦技術(shù)能夠測量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測量數(shù)據(jù)。采用NanoFocus技術(shù)的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產(chǎn)和加工的不同階段對敏感表面進(jìn)行無損測量，透明涂層表面和層厚也可以同時測量。

無需樣品制備即可在幾秒鐘內(nèi)獲取真正的3D數(shù)據(jù)，進(jìn)而對表面進(jìn)行定性和定量的評估。NanoFocus為測量數(shù)據(jù)的分析提供了強(qiáng)大的綜合軟件解決方案以便確定相關(guān)參數(shù)。

蘇州盟訊電子有限公司專注于光學(xué)微結(jié)構(gòu)熱壓設(shè)備，以其自主研發(fā)，技術(shù)創(chuàng)新，不斷推新導(dǎo)光膜卷/片材熱壓設(shè)備﹑同時適用于LED導(dǎo)光板/擴(kuò)散板/PS/PMMA/照明/面板/燈飾/燈箱/電視TV等納米導(dǎo)光板片材熱壓設(shè)備。

三維表面形貌測量儀可用于物體表面三維形貌和變形測量。由于該系統(tǒng)既可配備10倍變焦遠(yuǎn)距離顯微成像鏡頭，也可配備普通變焦鏡頭，使得該系統(tǒng)能同時滿足細(xì)觀及宏觀的測量要求。

三維表面形貌測量儀的應(yīng)用： 1、精密部件3D尺寸及段差測試； 2、精密點(diǎn)膠膠線截面、膠線寬度、膠線高度測試； 3、3D玻璃缺陷檢測； 4、半導(dǎo)體表面缺陷測試； 

一、三維表面形貌儀測量原理：低相干白光同時照射樣品和參考平面，被樣品和參考平面反射的兩束白光發(fā)生干涉后由陣列式CMOS探測器接收，由于探測器直接與信號處理芯片（Smart Pixel技術(shù)）連接，所以陣列上每個像素點(diǎn)的信號都在芯片中完成鎖相放大，背景信號補(bǔ)償和結(jié)果計算輸出，成像于計算機(jī)就實(shí)現(xiàn)了樣品表面的快速三維形貌測量。    二、三維表面形貌儀技術(shù)特點(diǎn)：    1、每秒一百萬張二維圖像    2、無損表面形貌檢測和分析    3、高精度在線/離線檢測    4、模塊化設(shè)計，超高集成靈活性    5、無需苛刻的工作環(huán)境（振動，噪聲，溫度等）    6、可應(yīng)用于科研和工業(yè)領(lǐng)域