手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來(lái)的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中，它們會(huì)釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過(guò)程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所發(fā)射出來(lái)的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。

手持式光譜儀的常見(jiàn)問(wèn)題解答

1、如何利用XRF技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)？

分析儀發(fā)出X射線。X射線撞擊到被測(cè)樣品，使樣品中的元素發(fā)出熒光，然后再返回到分析儀中的X射線探測(cè)器。分析儀對(duì)返回的X射線進(jìn)行計(jì)數(shù)，并通過(guò)數(shù)學(xué)式運(yùn)算，得出分析結(jié)果。

2、XRF分析儀的用途是什么？

XRF分析儀用于需要辨別材料的化學(xué)成分的應(yīng)用中。便攜式XRF分析儀可在野外現(xiàn)場(chǎng)采用堪比實(shí)驗(yàn)室的技術(shù)對(duì)那些龐大、笨重或運(yùn)送成本很高的樣品進(jìn)行檢測(cè)。在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析可以實(shí)時(shí)提供信息，使用戶迅速做出決策。

手持式光譜儀的應(yīng)用

手持式光譜儀用于考古發(fā)掘，古品及藝術(shù)品保護(hù)等領(lǐng)域已有五十多年的歷史。但直到近期功能強(qiáng)大的手持式設(shè)備的開(kāi)發(fā)，才使得這項(xiàng)非破壞性檢測(cè)技術(shù)在該領(lǐng)域得以充分發(fā)展。由于可應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)的分析工作，手持熒光光譜儀在可檢測(cè)的樣品上也有了大的拓展。

元素分析對(duì)于藝術(shù)品鑒定及考古發(fā)掘的意義

對(duì)于一些考古發(fā)掘出土物及歷史物品的來(lái)源及結(jié)構(gòu)鑒定首先需要了解它的元素組成。特別是在鑒別某些藝術(shù)品是真品還是仿造品時(shí),元素分析往往具有重要意義。因此近來(lái)，元素分析也被越來(lái)越多地應(yīng)用于古品保護(hù)工作中。

手持式光譜儀——性能介紹

優(yōu)良連通性能助力工業(yè)4.0變革：

VANTA Element-S型號(hào)分析儀由奧林巴斯成熟的Axon技術(shù)驅(qū)動(dòng)，具有與VANTA系列其他分析儀相同的高計(jì)數(shù)率和穩(wěn)定性，可使用戶迅速獲得檢測(cè)結(jié)果和投資回報(bào)。除具備了VANTA系列分析儀檢測(cè)迅速、結(jié)果可靠、堅(jiān)固耐用、連通性好等基本特性，可選配的無(wú)線連通性能使VANTA Element-S型號(hào)分析儀順應(yīng)了工業(yè)4.0的變革潮流，走向智能化。