相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點(diǎn)：可更加精準(zhǔn)的量測(cè)低相位差(0.1nm～)適合作為評(píng)估相位差的波長(zhǎng)分散、自動(dòng)檢測(cè)配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測(cè)器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個(gè)波長(zhǎng)的相位差量測(cè)。

購(gòu)買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

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日本產(chǎn)品保修一年，消耗品不再維修范圍內(nèi)。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

偏光計(jì)測(cè)模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強(qiáng)度pattern，因與以往的偏光計(jì)測(cè)裝置相比，其無偏光子回旋機(jī)構(gòu)，故其可維持其的測(cè)定及穩(wěn)定的性能。

因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測(cè)定裝置，作為設(shè)置場(chǎng)所，請(qǐng)考慮以下條件。萬一，下記條件未被滿足的場(chǎng)合，本系統(tǒng)的性能有可能無法發(fā)揮其100%.請(qǐng)注意。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測(cè)光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測(cè)量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動(dòng)XY-stage以及自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個(gè)Sample stage。Calibration時(shí)，自動(dòng)set基準(zhǔn)sample。

  本軟件，通過自動(dòng)制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測(cè)光檢出器以及自動(dòng)ＸＹ平臺(tái)來實(shí)施cellgap檢查每個(gè)樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動(dòng)運(yùn)輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測(cè)定。