相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學(xué)資料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

RETS-100閃電發(fā)貨OTSUKA相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備,日本大塚電子；

FPD相關(guān)的檢查和評價設(shè)備：

動態(tài)畫面反應(yīng)時間檢測儀：MPRT-2000,

相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備：RETS-100,

發(fā)貨OTSUKA,日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200；

 偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構(gòu)，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。用基準(zhǔn)Sample實施設(shè)備，偏光prism unit的角度校正和基準(zhǔn)Sample自身的Retardation測量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時進行。